誘發(fā)電位監(jiān)測(cè)對(duì)顱內(nèi)動(dòng)脈瘤手術(shù)中腦缺血性改變及其耐受程度的研究.pdf

1、目的：探討顱內(nèi)動(dòng)脈瘤手術(shù)中誘發(fā)電位信號(hào)變化與腦缺血及其耐受程度之間的關(guān)系。
　　 方法：對(duì)47例顱內(nèi)動(dòng)脈瘤夾閉術(shù)患者術(shù)中進(jìn)行體感誘發(fā)電位(SEP)和/或運(yùn)動(dòng)誘發(fā)電位(MEP)監(jiān)測(cè)，記錄術(shù)中載瘤動(dòng)脈臨時(shí)阻斷、穿支血管誤夾或腦血管痙攣后誘發(fā)電位達(dá)到預(yù)警標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)間及其達(dá)到預(yù)警標(biāo)準(zhǔn)后持續(xù)至解除引起誘發(fā)電位改變的相關(guān)操作的時(shí)間、解除相關(guān)操作后誘發(fā)電位恢復(fù)的時(shí)間，根據(jù)術(shù)后患者有無新的運(yùn)動(dòng)功能受損(肌力的下降)和/或術(shù)后CT檢查相應(yīng)部位有無出

2、現(xiàn)新鮮梗塞灶判斷是否造成新的腦缺血性損傷，并將兩者進(jìn)行相關(guān)性分析研究。
　　 結(jié)果：術(shù)中35例成功進(jìn)行SEP和MEP監(jiān)測(cè)，10例單獨(dú)行SEP監(jiān)測(cè)，2例單獨(dú)行MEP監(jiān)測(cè)，術(shù)后共10例出現(xiàn)新鮮梗塞灶和/或新的運(yùn)動(dòng)功能受損。24小時(shí)內(nèi)出現(xiàn)缺血性改變者7例，其中CT出現(xiàn)缺血性改變者6例，運(yùn)動(dòng)功能受損者3例，24小時(shí)后出現(xiàn)缺血性改變者3例，其中CT出現(xiàn)缺血性改變者2例，運(yùn)動(dòng)功能受損者1例。術(shù)中出現(xiàn)明顯SEP改變有共13例，其中5例術(shù)后出現(xiàn)

3、缺血性改變，載瘤動(dòng)脈阻斷引起的缺血耐受比(臨時(shí)阻斷過程中體感誘發(fā)電位達(dá)到預(yù)警標(biāo)準(zhǔn)后持續(xù)至臨時(shí)阻斷解除的時(shí)間/臨時(shí)阻斷至體感誘發(fā)電位達(dá)到預(yù)警標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)間×100％)在80％以上者(4例)全部出現(xiàn)術(shù)后缺血性改變，而在50％以下的患者(8例)均未出現(xiàn)缺血性改變，另外1例由穿支血管夾閉所致。在術(shù)中出現(xiàn)MEP改變8例中，術(shù)后出現(xiàn)缺血性改變4例(其中包括術(shù)中SEP正常而術(shù)后出現(xiàn)缺血性改變的3例患者)。
　　 結(jié)論：術(shù)中誘發(fā)電位的改變程度與術(shù)后