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1、通過對(duì)近幾十年邊界掃描技術(shù)文獻(xiàn)的總結(jié),本文首先闡述了該技術(shù)產(chǎn)生的背景以及發(fā)展現(xiàn)狀.本文接著討論了芯片內(nèi)部的邊界掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)以及邊界掃描測(cè)試方法在PCB測(cè)試中的工作原理,通過對(duì)基本理論的理解引出掃描測(cè)試過程中掃描測(cè)試矢量的處理,并從測(cè)試鏈路結(jié)構(gòu)上闡述測(cè)試矢量?jī)?yōu)化方法.通過一定的理論研究,將可測(cè)性設(shè)計(jì)應(yīng)用到實(shí)際電路當(dāng)中,實(shí)現(xiàn)對(duì)邊界掃描測(cè)試?yán)碚摰尿?yàn)證.根據(jù)對(duì)邊界掃描測(cè)試?yán)碚撗芯亢驮囼?yàn)的結(jié)果,本文進(jìn)一步提出了邊界掃描測(cè)試控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案,并將
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