邊界掃描技術(shù)研究及ARMJTAG調(diào)試器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、ARM處理器在現(xiàn)代的嵌入式電子產(chǎn)品中廣泛應(yīng)用，特別在通信、工業(yè)控制、自動(dòng)化等行業(yè)更是應(yīng)用廣泛，目前ARM處理已經(jīng)成為嵌入式電子產(chǎn)品中使用做多的處理器。ARM JTAG仿真器作為ARM系統(tǒng)開發(fā)工具鏈的重要組成部分之一，對(duì)軟硬件開發(fā)和調(diào)試的效率、最終交付系統(tǒng)的穩(wěn)定性和健壯性、降低系統(tǒng)開發(fā)難度等方面都產(chǎn)生重要影響。
　　目前，JTAG仿真器已經(jīng)應(yīng)用于ARM系統(tǒng)的軟硬件研發(fā)工作之中，但高性能的JTAG調(diào)試器基本都由國(guó)外公司研發(fā)，因此價(jià)格昂

2、貴，難以在一般開發(fā)者和小微企業(yè)普及；而國(guó)內(nèi)低價(jià)的JTAG調(diào)試器由于技術(shù)方案等問(wèn)題往往性能較差且不夠穩(wěn)定，不支持一些高級(jí)調(diào)試功能（如高速下載、硬件斷點(diǎn)、數(shù)據(jù)斷點(diǎn)、FLASH編程等），無(wú)法滿足大規(guī)模軟件開發(fā)調(diào)試的需求。
　　本論文正是針對(duì)上述問(wèn)題，在深入分析TAP控制器、ARM EmbeddedICE等技術(shù)的基礎(chǔ)上，對(duì)GDB調(diào)試技術(shù)、RSP協(xié)議、μC/OS-II和LwIP等關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行較深入的研究和試驗(yàn)，設(shè)計(jì)采用AT91SAM9260

3、處理器芯片的ARM JTAG仿真器，全面支持 ARM7和 ARM9系列內(nèi)核的調(diào)試、支持 JTAG時(shí)鐘速率可編程，具有10/100M自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)、USB等通信接口。本研究課題主要內(nèi)容包括：
　　1.研究ARM JTAG調(diào)試原理，在對(duì)TAP控制器、EmbeddedICE邏輯、邊界掃描鏈進(jìn)行分析的基礎(chǔ)之上，確定ARM JTAG仿真器的設(shè)計(jì)思路、方案以及基本實(shí)現(xiàn)方法。
　　2.在ARM JTAG調(diào)試原理的分析基礎(chǔ)之上，提出ARM JT

4、AG的設(shè)計(jì)需求和規(guī)格單，并基于此提出以AT91SAM9260為處理器的硬件架構(gòu)的JTAG仿真器硬件設(shè)計(jì)方案，該方案支持10/100M自適應(yīng)以太網(wǎng)、RS232串口、USB等通信接口，支持寬輸入電壓范圍；針對(duì)被調(diào)試目標(biāo)處理可能存在多種電壓的實(shí)際情況，設(shè)計(jì)了具有目標(biāo)處理器電壓自適應(yīng)能力的JTAG接口；在給出設(shè)計(jì)方案的同時(shí)，針對(duì)關(guān)鍵部分的電路設(shè)計(jì)給出詳細(xì)的設(shè)計(jì)原理圖和器件選型依據(jù)和設(shè)計(jì)原理分析。
　　3.按照課題的設(shè)計(jì)需求和規(guī)格要求，設(shè)計(jì)