邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)配置及測(cè)試對(duì)象描述技術(shù)研究.pdf

1、隨著芯片制造工藝的升級(jí)、電路功能的增強(qiáng)和芯片規(guī)模的提高,傳統(tǒng)探針測(cè)試方法已無(wú)法滿(mǎn)足特大規(guī)模、巨大規(guī)模集成電路的測(cè)試要求,邊界掃描技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,成為主流可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)之一,從而突破了數(shù)字電路的測(cè)試難題,實(shí)現(xiàn)了電路板故障診斷與定位的功能,滿(mǎn)足了超大規(guī)模集成電路的測(cè)試需求。
　　然而,隨著邊界掃描器件的增加,非邊界掃描器件并沒(méi)有減少,仍然大量存在。雖然邊界掃描技術(shù)是目前主流可測(cè)性技術(shù)之一,但是采用邊界掃描技術(shù)對(duì)邏輯簇進(jìn)行測(cè)試的研究尚不多

2、見(jiàn)。據(jù)研究調(diào)查結(jié)果推測(cè),BS器件和非BS器件在很長(zhǎng)的時(shí)間里必將共存。因此,研究BS器件和非BS器件的配置問(wèn)題,對(duì)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的高效測(cè)試具有很重要的應(yīng)用價(jià)值。
　　本文在深入研究邊界掃描測(cè)試技術(shù)原理的基礎(chǔ)上,重點(diǎn)研究了系統(tǒng)配置問(wèn)題。以完善數(shù)據(jù)管理機(jī)制,便于各個(gè)模塊之間調(diào)用數(shù)據(jù)為目標(biāo),在測(cè)試軟件中引進(jìn)了嵌入式數(shù)據(jù)庫(kù)SQLite3技術(shù),實(shí)現(xiàn)了BS器件的系統(tǒng)配置。然后在簇測(cè)試原理的基礎(chǔ)上,考慮到測(cè)試用例的可重用性和可擴(kuò)展性,使用了TCL嵌入C