微螺釘種植體支抗壓低過長牙的初步臨床應(yīng)用.pdf

1、目的：探討正畸使用微螺釘種植體支抗，持續(xù)輕力壓低過長磨牙及前牙的臨床效果。 方法：回顧性研究2007年8月至2009年3月完成的壓低11例患者過長的磨牙以及前牙病例。對于患者進(jìn)行詳細(xì)的口腔臨床檢查以及輔助檢查。予患者拍攝全景片、頭顱定位側(cè)位片、目標(biāo)牙數(shù)碼根尖片，并用藻酸鹽印模材料取研究模型，制定正畸治療方案?；颊咦栽高x擇微種植釘支抗配合部分或全口矯治器壓低伸長牙?；颊吣挲g在15至46歲之間，平均28.4歲。于過長磨牙遠(yuǎn)中頰側(cè)，近

2、中腭側(cè)骨板，或者上頜中切牙遠(yuǎn)中頰側(cè)骨板分別植入一枚國產(chǎn)自攻微螺釘種植體，使用約150～200克力量壓低伸長磨牙，約50克力壓低前牙。當(dāng)壓低后牙到合適位置，可安裝修復(fù)體，不需要機(jī)械保持，拆除種植釘即可；如壓低前牙，則需要傳統(tǒng)保持。壓低開始前與結(jié)束后均拍攝定位頭顱側(cè)位片，描計上頜與伸長牙影像，以腭平面(PP平面)及其與第一磨牙的垂直垂線組成的坐標(biāo)，測量四組距離變化數(shù)據(jù)：上中切牙點(diǎn)至腭平面垂直距離(U1-PP)，上中切牙點(diǎn)至PPY垂直距離(U

3、1—Ypp)，第一磨牙近中尖至腭平面垂直距離(U6-PP)，第一磨牙近中尖至PPY垂直距離(U6—Ypp)，來精確測量牙齒移動量。對同一張頭顱側(cè)位片的兩次測量數(shù)據(jù)進(jìn)行配對t檢驗，計算兩次測量數(shù)據(jù)相關(guān)性，檢驗測量誤差是否在可接受的誤差范圍內(nèi)。測量數(shù)據(jù)配對t檢驗比較治療前后的差異，統(tǒng)計壓低效果。此外，通過壓低前后牙齒冠根比的變化，配對t檢驗，檢驗壓低牙根吸收的情況。測量數(shù)據(jù)使用SPSS10.0統(tǒng)計學(xué)軟件進(jìn)行分析，配對t檢驗比較治療前后改變量

4、差異，檢驗水平設(shè)為0.05。 結(jié)果：臨床上11名病人過長牙均成功壓低，治療時間3～8個月，平均壓低時間在5.9個月。對同一張頭顱側(cè)位片的兩次測量數(shù)據(jù)進(jìn)行配對t檢驗，兩次測量數(shù)據(jù)高度相關(guān)(r=0.933，P＜.001)。上頜前牙垂直平均壓低量為2.3mm(P＜.001)，上頜后牙垂直平均壓低量為2.7mm(P＜.001)。上頜前牙水平方向移動量僅為0.7mm(P＜.05)，上頜后牙水平方向沒有發(fā)生顯著性移動。在牙根吸收方面，在壓低