基于混沌搜索的測試產生算法和測試向量無關位識別器研究.pdf

1、隨著集成電路測試技術的不斷發(fā)展，瞬態(tài)電流測試（IDDT Testing）作為傳統電壓測試和穩(wěn)態(tài)電流測試方法的一個補充，越來越受到研究領域和工業(yè)界的關注。 瞬態(tài)電流測試產生需要一次產生多個向量（兩個或兩個以上），測試產生算法比較復雜，耗時較多，因此研究高效的測試產生算法具有重要的意義。 論文首先闡述了數字電路測試的發(fā)展情況以及數字電路測試的基本理論與方法，并對現有的數字電路測試產生算法進行了總結。 接著，針對電路的

2、開路故障，提出一種基于混沌搜索的IDDT 測試產生算法。 該算法充分考慮了電路的拓撲結構，利用FAN 算法的反向蘊含模塊激活故障，采用混沌搜索實現瞬態(tài)電流差別最大化。該算法在保證一定故障覆蓋率的同時有效地降低了測試產生時間。SPICE 模擬試驗結果表明，該算法用于瞬態(tài)電流測試產生是可行的。 隨后，針對IDDT 測試產生算法搜索空間較大的問題，提出了一種電路劃分策略。該策略通過分析電路故障信號在電路中傳播的過程，找到影響故

3、障信號傳播的三類節(jié)點，并由此找到控制這些節(jié)點邏輯值的輸入端，從而剔除對傳播故障信號沒有貢獻的原始輸入，減小了搜索空間。 最后，針對組合電路給定的測試向量集，設計了一種無關位識別器。對于一個給定的測試集，將有些原始輸入置換成相反的邏輯值不會改變故障覆蓋率。通過對故障傳播路徑的分析和對ATPG 算法中蘊含和確認模塊的改進，實現了對這樣原始輸入的識別。實驗結果表明，約有26％的原始輸入可置為0 或1。找到盡可能多的這樣的原始輸入，對降