基于游程編碼的測(cè)試向量壓縮方法研究.pdf

1、隨著集成電路制造工藝的不斷發(fā)展，SoC芯片上集成的晶體管越來越多，其功能也越來越強(qiáng)大，這給生產(chǎn)和生活帶來了很大的便利。隨著SoC集成度的增加測(cè)試數(shù)據(jù)量也隨之迅猛增加，這給自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE的存儲(chǔ)器帶來了巨大的壓力，同時(shí)也延長了測(cè)試時(shí)間，增加了測(cè)試成本。如何有效地壓縮測(cè)試數(shù)據(jù)已成為現(xiàn)在研究的一個(gè)熱點(diǎn)問題。本論文正是圍繞測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮的問題展開了研究。
　　測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)是SoC測(cè)試中的關(guān)鍵技術(shù)。本文介紹了測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)中一些常用的

2、壓縮方法，重點(diǎn)介紹了游程編碼并對(duì)其特點(diǎn)進(jìn)行了分析。由于游程編碼實(shí)現(xiàn)方法簡單，解壓電路硬件開銷小，很多改進(jìn)的壓縮方法都是基于游程編碼的。本文針對(duì)游程編碼的特點(diǎn)提出了兩種改進(jìn)的壓縮方案。
　　方案一利用向量之間差分的方法對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮。在以往的研究中雖然也有學(xué)者提出了差分的方法，但是并沒有給出具體的差分方案，差分效果并不明顯。本文在這里提出一種具體的差分方案：首先將測(cè)試向量按向量之間的相容性進(jìn)行行排序，然后再按列填充無關(guān)位X，最后

3、對(duì)相鄰向量之間兩兩差分。經(jīng)過以上步驟對(duì)測(cè)試向量處理后，測(cè)試集中得到了大量的0，即增加了0游程的長度，適合用單一游程編碼的FDR編碼。
　　方案二利用重組測(cè)試向量的方法對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮。本文通過研究發(fā)現(xiàn)，在用雙游程編碼時(shí)，對(duì)于兩個(gè)長度的游程，如果設(shè)法增加長游程長度，同時(shí)縮短短游程長度，這樣也能提高壓縮率。為了利用這一特性本文定義了一種新的相容性重組測(cè)試向量。該方案假設(shè)把所有的測(cè)試向量按行排列組成一個(gè)矩陣，每一行代表一個(gè)測(cè)試向量，首