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1、邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法，它提供了對(duì)電路板上元件的功能、互連及相互間影響進(jìn)行測(cè)試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測(cè)試。本文基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)剖析了JTAG邊界掃描測(cè)試的精髓，分析了其組成，功能與時(shí)序控制等關(guān)鍵技術(shù)。 應(yīng)用在FPGA芯片中的邊界掃描電路側(cè)重于電路板級(jí)測(cè)試，兼顧芯片功能測(cè)試，同時(shí)提供JTAG下載方式。針對(duì)在FPGA芯片中的應(yīng)用特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了一種邊界掃描電路，應(yīng)用于
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