圖形電磁學(xué)中的若干關(guān)鍵算法研究.pdf

1、隨著雷達(dá)和電子對抗技術(shù)的發(fā)展，復(fù)雜電磁環(huán)境的分析與研究越來越受到人們的重視。目前，復(fù)雜目標(biāo)的電磁散射已經(jīng)成為了一個(gè)熱點(diǎn)研究問題，在預(yù)估雷達(dá)散射截面方面有許多方法被提出。其中，圖形電磁計(jì)算方法(Graphical ElectromagneticComputing，GRECO)被認(rèn)為是用高頻近似法分析電大尺寸復(fù)雜目標(biāo)RCS的最有效的方法，受到了廣泛地應(yīng)用。本文采用圖形電磁計(jì)算方法對雷達(dá)照射范圍內(nèi)的目標(biāo)和環(huán)境進(jìn)行散射截面預(yù)估，并針對目標(biāo)特性仿

2、真中的三維目標(biāo)建模和面向雜波仿真的實(shí)時(shí)圖形計(jì)算進(jìn)行了研究，提出了法向量調(diào)整算法、基于幾何和能量特征的邊折疊算法和基于GPU的移動(dòng)平臺(tái)上雷達(dá)與地面的幾何關(guān)系實(shí)時(shí)計(jì)算算法。 本文完成的主要工作和創(chuàng)新之處有： 1．在三維目標(biāo)的建模過程中，原始數(shù)據(jù)通常帶有一些瑕疵，主要表現(xiàn)為面元的頂點(diǎn)拓?fù)漤樞虿徽_、不合適的網(wǎng)格剖分、局部過度細(xì)化等等。前兩種情況將使得建立的三維目標(biāo)表面不光滑，會(huì)極大地影響到RCS的準(zhǔn)確性。局部過度細(xì)化則會(huì)造成數(shù)

3、據(jù)量過大，延長RCS計(jì)算時(shí)間。針對這些情況，本文提出了法向量調(diào)整算法和基于幾何和能量特征的邊折疊算法，并應(yīng)用了一種自適應(yīng)三角網(wǎng)格模型重新布點(diǎn)算法。法向量調(diào)整算法是根據(jù)法向量方向的正誤判斷面元的頂點(diǎn)拓?fù)漤樞蛘_與否，并對錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正。算法簡明有效，具有很好的應(yīng)用價(jià)值。自適應(yīng)三角網(wǎng)格模型重新布點(diǎn)算法以對任意拓?fù)淙蔷W(wǎng)格進(jìn)行自動(dòng)三邊界區(qū)域劃分為基礎(chǔ)，對三角網(wǎng)格模型進(jìn)行自適應(yīng)優(yōu)化。基于幾何和能量特征的邊折疊算法是在RCS精度范圍對模型進(jìn)行