基于并行DSP的VLSI功能測試研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文介紹了以多片并行ADSP-TS101芯片為核心部件的VLSI功能測試用圖形發(fā)生器的原理及其優(yōu)勢。 文章通過對并行運算和并行計算機的分析，結(jié)合ADSP-TS101的軟硬件資源，提出了多片ADSP-TS101的并行方案，并對不同的方案作了比較說明。另外本文還比較詳細的分析比較了常用的存儲器測試算法，簡要分析了VLSI測試生成算法。文章分五個部分進行了闡述：第一、敘述并行計算和并行計算機，介紹并行計算機的發(fā)展、并行算法及其衡量標準

2、、并行處理系統(tǒng)的分類。第二、敘述存儲器的功能測試。根據(jù)存儲器的結(jié)構(gòu)，分析故障產(chǎn)生原因；介紹存儲器測試的常用測試圖形；最后給出仿真試驗結(jié)論。第三、敘述所采用的工作平臺—ADSP-TS101，根據(jù)ADSP-TS101的軟硬件資源，給出并行方案。第四、敘述VLSI的功能測試。主要介紹自動測試系統(tǒng)的發(fā)展和測試生成算法。第五、根據(jù)VLSI自動測試系統(tǒng)的實際需求，給出一個基于多片并行ADSP-TS101芯片為核心部件的VLSI功能測試用圖形發(fā)生器的

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