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文檔簡(jiǎn)介
1、本文研究了導(dǎo)電型聚酰亞胺二次表面鏡 ITO/Kapton/Al和導(dǎo)電型聚酰亞胺抗原子氧二次表面鏡 ITO/SiOx/Kapton/Al兩種薄膜材料分別在原子氧侵蝕和粉塵撞擊作用下質(zhì)量損失狀況、表面形貌和電導(dǎo)率變化以及光學(xué)性能的演化規(guī)律和損傷機(jī)理。
原子氧暴露試驗(yàn)結(jié)果表明,兩種導(dǎo)電性聚酰亞胺二次表面鏡薄膜質(zhì)量損失與原子氧暴露劑量成正比關(guān)系,這與原子氧剝蝕效應(yīng)的質(zhì)損方程相吻合;原子氧暴露后,導(dǎo)電性二次表面鏡太陽光譜反射系數(shù)隨著原子
2、氧暴露劑量的增加而降低,并且光譜變化區(qū)域由紫外區(qū)向紅外區(qū)移動(dòng),這說明經(jīng)原子氧暴露后導(dǎo)電型聚酰亞胺二次表面鏡光譜反射率退化較嚴(yán)重。
在原子氧環(huán)境暴露后,預(yù)置折疊的ITO/Kapton/Al表面破壞明顯,剝蝕程度嚴(yán)重,而預(yù)置折疊的ITO/SiOx/Kapton/Al則表面致密,具有很好的抗原子氧性能。折疊后導(dǎo)電型聚酰亞胺二次表面鏡薄膜導(dǎo)電性較正常表面薄膜有一定下降,原子氧暴露試驗(yàn)后,其電學(xué)性能下降嚴(yán)重得多。
粉塵撞擊試驗(yàn)
3、結(jié)果表明,導(dǎo)電型聚酰亞胺二次表面鏡 ITO/Kapton/Al由撞擊試驗(yàn)前的光滑平整表面變?yōu)辄c(diǎn)孔狀形貌,形成“沙蝕”現(xiàn)象;試驗(yàn)樣品隨著撞擊角度的不同受破壞狀況不同:撞擊方向與薄膜表面成90°角時(shí),ITO/Kapton/Al表面損傷破壞區(qū)域多近似圓形,而撞擊方向與薄膜表面成45°角時(shí),ITO/Kapton/A表面破壞區(qū)域多呈條塊狀,并且均存在擠壓變形。
導(dǎo)電型聚酰亞胺二次表面鏡薄膜在粉塵撞擊后太陽光譜反射率出現(xiàn)極小幅度下降,空間
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