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文檔簡介
1、本文在對激光衍射測量技術(shù)及CCD技術(shù)進(jìn)行了較為廣泛和深入的理論分析和實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,探討了用激光衍射測量技術(shù)及CCD技術(shù)測量回轉(zhuǎn)類零件形位誤差的非接觸精密測量方法.在理論研究的基礎(chǔ)上,實(shí)現(xiàn)自動識別一楨CCD信號暗點(diǎn)個數(shù),對個別暗點(diǎn)進(jìn)行粗略定位,用最小二乘曲線擬合方法實(shí)現(xiàn)暗點(diǎn)的精確定位.建立評定回轉(zhuǎn)體形位誤差的數(shù)學(xué)模型,采用半徑增量法,在垂直于工件的回轉(zhuǎn)軸線的等間距截面輪廓上,獲得等角度間隔的離散采樣點(diǎn)采樣資料,根據(jù)不同的數(shù)學(xué)模型求得不同評
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