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集成電路電磁干擾測量方法的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,集成電路(IC)的電磁兼容性能也日益受到關(guān)注。集成電路作為電子設(shè)備的關(guān)鍵器件,其電磁干擾特性對(duì)電子設(shè)備的電磁兼容性具有重要影響。研究集成電路電磁干擾的測量方法,可以建立集成電路電磁兼容測量和評(píng)估的有效手段,以幫助集成電路電磁兼容性能的設(shè)計(jì)提高,并指導(dǎo)實(shí)際應(yīng)用中的IC選型和改進(jìn)。 本文分析了集成電路的電磁干擾測量技術(shù)涉及的有關(guān)電磁發(fā)射方面的內(nèi)容,重點(diǎn)研究了有關(guān)IC的電磁干擾性能檢測方法,通過比較幾種方法的特

2、點(diǎn),確立了主要研究直接耦合法和法拉第箱體法檢測技術(shù),并對(duì)直接耦合法和法拉第箱體法的測量方法和測量系統(tǒng)進(jìn)行了深入的研究。 本文的主要成果包括: a.分析了集成電路電磁干擾產(chǎn)生的原因,研究利用不同方法測量集成電路的電磁干擾,并重點(diǎn)分析了直接耦合法和法拉第箱體法的測量原理; b.重點(diǎn)研究了集成電路電磁干擾測量系統(tǒng)的構(gòu)成,對(duì)所需的儀器設(shè)備提出了指標(biāo)要求,對(duì)符合測量要求的測試設(shè)備進(jìn)行了選型,并試制了探頭、匹配網(wǎng)絡(luò)、法拉

3、第箱體等裝置,完成了集成電路電磁干擾測量系統(tǒng)的搭建,并利用該成果進(jìn)行了IC樣品的測試驗(yàn)證。 c.研究了集成電路電磁干擾測量過程中需要注意的試驗(yàn)條件、工作狀態(tài)、試驗(yàn)布置、試驗(yàn)過程、結(jié)果判定等問題,提出了集成電路電磁干擾測試方案。 本文研究建立的測試系統(tǒng)和測量方法,可以應(yīng)用于IC的研發(fā)、評(píng)估和實(shí)際應(yīng)用階段,對(duì)于IC設(shè)計(jì)前后電磁干擾的變化、對(duì)于不同IC電磁干擾的對(duì)比、對(duì)于IC實(shí)際應(yīng)用中不同的使用方式,都能夠通過有效地測量,給

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