基于機(jī)器視覺的TFT-LCD屏Mura缺陷檢測方法研究.pdf

1、隨著液晶顯示驅(qū)動技術(shù)的飛速發(fā)展，以薄膜晶體管液晶顯示器（ TFT-LCD）為代表的新型平板顯示器逐漸成為了顯示終端的主流。TFT-LCD由于具備低功耗、輕薄易用、高亮度、高對比度和高響應(yīng)速度等眾多優(yōu)點(diǎn)，正受到越來越多的消費(fèi)者的青睞，應(yīng)用領(lǐng)域也在不斷擴(kuò)展。與此同時，為適應(yīng)市場需求，TFT-LCD正向著高分辨率、輕薄化、低功耗和大屏幕的方向發(fā)展。在其生產(chǎn)過程中，TFT-LCD的重要組成部分玻璃面板等材料尺寸在逐步擴(kuò)大，厚度在漸漸變薄，但隨之

2、出現(xiàn)的顯示不均勻缺陷（Mura缺陷）問題也在日益突出。目前在液晶面板行業(yè)，絕大多數(shù)生產(chǎn)制造商在 Mura缺陷檢測環(huán)節(jié)仍然采用傳統(tǒng)的人工視覺檢測（HVI）方法，但該方法易受檢測人員主觀因素及外界環(huán)境影響，且對Mura缺陷缺乏客觀的量化標(biāo)準(zhǔn)，很難保證產(chǎn)品質(zhì)量，檢測效率也極為低下，因此迫切需要研究穩(wěn)定高效的Mura缺陷自動檢測方法。
　　本文在分析 Mura缺陷典型特點(diǎn)的基礎(chǔ)上，提出了一種基于機(jī)器視覺的 Mura缺陷檢測方法，該方法包含

3、樣本采集、預(yù)處理、背景抑制、亮度校正、Mura缺陷分割和Mura缺陷量化六大步驟。同時，本文綜合利用相關(guān)圖像處理理論，通過詳細(xì)的原理推導(dǎo)、算法設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)仿真，分別實(shí)現(xiàn)了檢測方法中背景抑制、亮度校正、Mura缺陷分割及量化三大關(guān)鍵技術(shù)的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證，并最終完成了基于機(jī)器視覺的TFT-LCD屏Mura缺陷標(biāo)準(zhǔn)檢測流程的建立。針對含Mura缺陷的圖像背景抑制問題，本文采用了基于 Gabor濾波的算法思想，并通過合理配置濾波器的各項(xiàng)濾波參數(shù)，成功

4、抑制掉了圖像中存在的紋理，同時由于 Gabor的濾波特性使得檢測結(jié)果更符合人眼判別標(biāo)準(zhǔn)。針對圖像中存在的亮度不均勻現(xiàn)象，本文采用了基于盲源分離模型的圖像亮度校正方法，將圖像中存在的亮度不均勻以及莫爾條紋等影響Mura缺陷檢測的眾多因素統(tǒng)一當(dāng)成圖像亮度噪聲進(jìn)行抑制，利用同態(tài)變換和 FastICA算法相結(jié)合的方式能夠在先驗(yàn)知識未知的情況下成功完成圖像的亮度校正。針對低對比度、邊緣模糊的 Mura缺陷分割及量化問題，本文采用了基于Chan-V