TFT-LCD顯示屏Mura缺陷自動光學(xué)檢測算法研究.pdf

1、TFT-LCD制造過程工序多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜，顯示屏不可避免地存在各種視覺缺陷，視覺缺陷超過一定程度就會影響用戶的生理健康。顯示屏局部的亮度不均勻現(xiàn)象是最常見的一種視覺缺陷，這種缺陷被稱為 Mura。當(dāng)前 Mura缺陷檢測主要依靠人眼，這種方法主觀性強、效率低，越來越不能適應(yīng)TFT-LCD顯示屏大批量、大尺寸的生產(chǎn)要求，迫切需要研究自動缺陷檢測方法。Mura缺陷具有形狀不固定、對比度低、邊緣模糊、背景復(fù)雜等特點，是自動缺陷檢測方法研究的難點所

2、在。
　　本文研究不依賴于人眼的Mura缺陷自動光學(xué)檢測算法。根據(jù)待檢測圖像的特點以及Mura缺陷檢測的難點，整個算法被設(shè)計為三部分：圖像預(yù)處理、缺陷分割和特征提取，核心算法是背景抑制。針對采集過程中引入的噪聲，經(jīng)過實驗對比，采用巴特沃斯低通濾波器對圖像進行降噪處理；為從圖像中分離出TFT-LCD顯示屏圖像，根據(jù)顯示屏與周圍物體的對比度及其幾何特征，采用全局閾值法和Hough變換分割感興趣區(qū)域；針對圖像中存在的亮度不均勻現(xiàn)象，采用

3、標(biāo)準(zhǔn)模板圖像對亮度不均勻進行校正，并保留Mura缺陷。缺陷分割分為背景抑制和缺陷修復(fù)兩部分。將TFT-LCD顯示屏背景灰度看作三維空間中一張光滑的曲面，采用雙三次B樣條擬合算法對背景進行重構(gòu)，用原圖像減去背景圖像，達到背景抑制的目的；亮度不均勻區(qū)域經(jīng)過一系列算法處理后，可能會遭到破壞，通過對數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)中各種操作進行適當(dāng)?shù)慕M合，能夠達到修復(fù)較大連通區(qū)域的目的，并可抑制較小的連通區(qū)域。特征提取的目的，一方面是為Mura缺陷的判定提供依據(jù)，另