場地因素對天線系數(shù)測量影響的修正研究.pdf

1、電磁兼容天線的天線系數(shù)是電磁兼容測試?yán)镒罨镜臏y量參量之一。所有電磁兼容實(shí)驗室測試使用的電磁兼容天線每年必須經(jīng)過天線系數(shù)的校準(zhǔn)測量。因此，天線系數(shù)的修正研究具有重要的理論意義和實(shí)用價值。 開闊實(shí)驗場和半電波暗室是國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行天線系數(shù)測量的場地。在開闊實(shí)驗場或半電波暗室中測量天線系數(shù)時會由于場地本身原因或周圍障礙物原因?qū)⒎瓷涓蓴_信號帶入測量結(jié)果，令天線系數(shù)測量值不準(zhǔn)確。本文以場地因素對天線系數(shù)測量的影響為研究重點(diǎn)，主要進(jìn)行了

2、消除場地因素引起的反射干擾從而修正天線系數(shù)的研究工作。 作者首先對開闊實(shí)驗場場地寬度不足對天線系數(shù)測量的影響展開研究。文章一方面對開闊試驗場費(fèi)涅爾區(qū)范圍和場地邊沿終止影響進(jìn)行了理論上的分析，另一方面選擇以矩量法為基礎(chǔ)的電磁場仿真軟件建立了雙錐天線模型，用此模型對天線在理想開闊實(shí)驗場、10m標(biāo)準(zhǔn)開闊實(shí)驗場和現(xiàn)有的寬度不足的開闊實(shí)驗場進(jìn)行仿真。最后，得出了場地寬度不足對不同頻率、不同極化方式測量的影響程度。 作者還用時域分析

3、的方法，對開闊實(shí)驗場和半電波暗室的反射干擾情況進(jìn)行了分析。明確了在開闊實(shí)驗場和半電波暗室中測量接收信號中各個反射干擾信號的來源，從而為能剔除干擾奠定了基礎(chǔ)。 最后作者研究了怎樣通過時域門的手段對場地因素引入的干擾進(jìn)行剔除。在開闊實(shí)驗場和半電波暗室兩種情況下，對不加時域門和加入時域門進(jìn)行了不同設(shè)置下的天線系數(shù)對比測量。測量結(jié)論證明了加入時域門能有效去除由場地因素引起的反射干擾，對天線系數(shù)測量結(jié)果，特別是在垂直極化下的測量結(jié)果，有明