TFTR LCD Souce Driver芯片測(cè)試研究.pdf

1、本文主要以瀚瑞微電子有限公司的一款數(shù)字源驅(qū)動(dòng)芯片的設(shè)計(jì)工作為基礎(chǔ)，利用現(xiàn)有的測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)，結(jié)合TFT-LCD驅(qū)動(dòng)芯片的特點(diǎn)提出一套高效、實(shí)用、面向TFT-LCD驅(qū)動(dòng)芯片制造的專用測(cè)試方案。該測(cè)試方案在有效地保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)又能降低后端測(cè)試成本，從而可以最大限度的提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。
　　文章從液晶面板的工作原理和驅(qū)動(dòng)液晶面板原理開始著手，并從芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)闡述其驅(qū)動(dòng)原理、多輸出通道、移位寄存器、Rail-to-Rail輸出

2、緩沖放大器、輸出電壓偏差較小和雙向移位能力等特性。還簡(jiǎn)述了驅(qū)動(dòng)芯片的設(shè)計(jì)流程和芯片的工藝和封裝測(cè)試流程，以及性能指標(biāo)。一個(gè)可測(cè)試的芯片包含：可控性、可觀測(cè)性和可隔離性這三個(gè)要素及對(duì)各要素的解釋說明。
　　總結(jié)液晶驅(qū)動(dòng)芯片常規(guī)測(cè)試方法，及數(shù)字芯片和數(shù)摸轉(zhuǎn)換電路的測(cè)試方法和測(cè)試技術(shù)。詳述了如何制定測(cè)試方案，指出測(cè)試所著重考量的測(cè)試成本、測(cè)試電路開發(fā)的難度、ATE設(shè)備能力等幾大因素。針對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路特殊的測(cè)試需求、驅(qū)動(dòng)芯片引腳眾多、測(cè)試

3、指標(biāo)難以選擇、測(cè)試成本壓力大等測(cè)試難點(diǎn)，以一款數(shù)字源驅(qū)動(dòng)芯片為例，選取了合理的測(cè)試評(píng)價(jià)指標(biāo)，并利用該指標(biāo)體系對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試進(jìn)行評(píng)價(jià)，既可以保證測(cè)試質(zhì)量，又能提高測(cè)試效率。
　　介紹了業(yè)界著名公司Yokogawa的LCD驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試系統(tǒng)ST6730的特點(diǎn)和如何高效的使用測(cè)試資源來優(yōu)化測(cè)試方法，也同時(shí)說明實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái)的互補(bǔ)作用和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試平臺(tái)的系統(tǒng)細(xì)節(jié)。重點(diǎn)闡述了CP測(cè)試程式的編寫、調(diào)試及測(cè)試數(shù)據(jù)的分析和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方法的應(yīng)用。將

4、多種方式的Relay控制，快速有效的驅(qū)動(dòng)芯片引腳的輸出測(cè)試及高精度灰階測(cè)試等在測(cè)試實(shí)踐中做了詳細(xì)論述。其中，利用測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部有源負(fù)載電路進(jìn)行參數(shù)比較與參數(shù)范圍判斷，利用數(shù)字采樣器進(jìn)行精確測(cè)量，用快速比較法測(cè)試替代了傳統(tǒng)的DC測(cè)試法。利用機(jī)臺(tái)的CUNIT單元自帶獨(dú)立CPU可并行運(yùn)算的特點(diǎn)，使數(shù)據(jù)處理的時(shí)間達(dá)到納秒級(jí)別，大大提高測(cè)試效率。
　　本文所提到的一系列測(cè)試方案已經(jīng)被國(guó)內(nèi)的相關(guān)設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用并認(rèn)可，并在一款數(shù)字源驅(qū)動(dòng)芯片項(xiàng)目