TFT-LCD源驅(qū)動芯片測試技術(shù)研究.pdf

1、本文主要以瀚瑞微電子有限公司的一款模擬源驅(qū)動芯片PIX82720TC設(shè)計工作為基礎(chǔ)，利用現(xiàn)有的測試和可測試性設(shè)計技術(shù)，結(jié)合TFT(Thin Film Transistor)-LCD驅(qū)動芯片的特點提出一套高效、實用、面向TFT-LCD驅(qū)動芯片制造的專用測試方案。該測試方案在有效地保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時又能降低后端測試成本，從而可以最大限度的提高產(chǎn)品競爭力。
　　 文章從液晶物理特性、發(fā)光原理和面板結(jié)構(gòu)等方面說明液晶的顯示原理。從芯片的

2、內(nèi)部結(jié)構(gòu)闡述其驅(qū)動原理，及其多輸出通道、雙采樣-保持電路、輸出電壓偏差較小和雙向移位能力等特性。還簡述了驅(qū)動芯片的設(shè)計流程和芯片的工藝和封裝測試流程，以及性能指標(biāo)。一個可測試的芯片包含：可控性、可觀測性和可隔離性這三個要素及對各要素的解釋說明。
　　 總結(jié)液晶驅(qū)動芯片常規(guī)測試方法，及模擬IC和DAC電路的測試方法和測試技術(shù)。詳述了如何制定測試方案，指出測試所著重考量的測試成本、測試電路開發(fā)的難度、ATE設(shè)備能力等幾大因素。針對顯

3、示驅(qū)動電路特殊的測試需求和驅(qū)動芯片引腳眾多、測試指標(biāo)難以選擇、測試成本壓力大等測試難點，以PIX82720TC為例，選取了合理的測試評價指標(biāo)，并利用該指標(biāo)體系對顯示驅(qū)動電路的測試進(jìn)行評價，既可以保證測試質(zhì)量，又能提高測試效率。
　　 介紹了業(yè)界著名公司Yokogawa的LCD測試系統(tǒng)ST6730的特點和如何高效的使用測試資源來優(yōu)化測試方法。重點闡述了測試程式的編寫與調(diào)試及測試數(shù)據(jù)的分析。將多方式的Relay控制，快速有效的LCD

4、 pin的輸出測試及高精度灰階測試等在測試實踐中做了詳細(xì)論述。其中，活用Active Load (內(nèi)部有源負(fù)載電路)進(jìn)行參數(shù)比較與參數(shù)范圍判斷，利用Digitizer (數(shù)字采樣器)進(jìn)行精確測量，用快速比較法測試替代了傳統(tǒng)的DC測試法。利用機臺的CUNIT單元自帶獨立CPU可并行運算的特點，使數(shù)據(jù)處理的時間達(dá)到納秒級別，大大提高測試效率。
　　 本文所提到的一系列測試方案己經(jīng)被國內(nèi)的相關(guān)設(shè)計公司廣泛應(yīng)用并認(rèn)可，并在PIX8272