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文檔簡介
1、單粒子效應(yīng)(Single Event Effect,SEE)是引發(fā)電路系統(tǒng)軟錯誤的一個重要根源,傳統(tǒng)的加固技術(shù)主要集中于單粒子翻轉(zhuǎn)(Single Event Upset,SEU),而隨著近年來集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,工藝尺寸的不斷下降,電源電壓不斷降低,單粒子瞬態(tài)效應(yīng)(Single Event Transient,SET)越來越成為影響電路系統(tǒng)可靠性的重要因素。因此如何對電路系統(tǒng)進行抗SET加固,成為了值得研究的一個方向。另一方面,在研
2、究抗SEE加固技術(shù)的同時,研究者需要對電路系統(tǒng)的SEE敏感性以及其加固技術(shù)的可靠性進行分析和評價,而故障注入作為一種靈活方便且有效的手段,在該領(lǐng)域也成為越來越重要的一個方向。
基于以上原因,本文的內(nèi)容主要包括兩個方面:抗SET觸發(fā)器IDSDFF的設(shè)計和基于仿真的故障注入工具FITBS的開發(fā)。
IDSDFF是在傳統(tǒng)的D觸發(fā)器的基礎(chǔ)上,添加內(nèi)部采樣鎖存器結(jié)構(gòu),使得其在具備抗SET功能的同時,對電路系統(tǒng)的性能影響較小。
3、r> 本文設(shè)計的FITBS是基于仿真的故障注入工具,在相關(guān)故障注入理論的基礎(chǔ)上,制定其基本架構(gòu),并且設(shè)計了針對Verilog的詞法分析器,基于Modelsim的仿真器接口,數(shù)據(jù)分析器以及圖形用戶接口,并且對FITBS面臨的相關(guān)問題進行了優(yōu)化設(shè)計。
基于本文設(shè)計的FITBS,采用相應(yīng)的電路系統(tǒng)進行了故障注入測試,從而對FITBS進行驗證,包括本文所設(shè)計的抗SET的觸發(fā)器IDSDFF,進行了SET故障注入,證明IDSDFF可以有
4、效地屏蔽SET脈沖。
為了更加全面地對FITBS進行測試,需要選擇較為大型的測試電路,本文選擇了微處理器OpenMips作為目標(biāo)電路進行測試,在其體系結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,搭建相應(yīng)的測試平臺,包括交叉編譯器的搭建和測試程序的編譯,然后采用FITBS對其中的部分寄存器進行SEU注入,分析了其對SEU的敏感性,結(jié)果表明采用本文設(shè)計的FITBS進行的故障注入測試結(jié)果符合相應(yīng)的理論結(jié)果,證明FITBS可以有效的對Verilog描述的電路系統(tǒng)進
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