基于ARM的器件表面裂紋自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的研究.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的迅猛發(fā)展,對(duì)于器件的精度及質(zhì)量要求隨之上升。在實(shí)際生產(chǎn)中,器件將受到外界各種因素的影響,導(dǎo)致在其表面產(chǎn)生裂紋,進(jìn)而對(duì)器件品質(zhì)造成負(fù)面影響,嚴(yán)重時(shí)使器件報(bào)廢?；谏鲜銮闆r,在生產(chǎn)過程中對(duì)器件進(jìn)行裂紋檢測(cè)非常關(guān)鍵。在器件檢測(cè)方法中,文中采用視覺檢測(cè)方法,其優(yōu)點(diǎn)是成本低、檢測(cè)效率高。但此方法需要基于某一系統(tǒng)平臺(tái)才能實(shí)現(xiàn)。ARM嵌入式系統(tǒng)平臺(tái)因其功能完善,且比PC機(jī)系統(tǒng)具備小型化、便攜性、低功耗及成本低等優(yōu)勢(shì),所以采用 ARM嵌入

2、式平臺(tái)作為視覺檢測(cè)平臺(tái)。
　　文中基于ARM嵌入式系統(tǒng)平臺(tái)下,結(jié)合視覺檢測(cè)方法,對(duì)器件表面裂紋識(shí)別從以下幾方面研究:
　　第一,在表面裂紋識(shí)別系統(tǒng)中,采用ARM嵌入式技術(shù)搭建整個(gè)系統(tǒng),并對(duì)其進(jìn)行模塊的設(shè)計(jì)與開發(fā),實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)硬件功能。文中以 S3C6410核心,搭建整個(gè)硬件系統(tǒng)平臺(tái);設(shè)計(jì)了電源、時(shí)鐘、存儲(chǔ)器、USB及LCD液晶顯示等接口及外圍電路;在這個(gè)硬件平臺(tái)上搭建Linux操作系統(tǒng),完成交叉編譯、內(nèi)核的定制、BootLoad

3、er引導(dǎo)程序及驅(qū)動(dòng)程序的開發(fā)與設(shè)計(jì)。
　　第二,基于數(shù)字圖像處理技術(shù),結(jié)合視覺檢測(cè)方法,完成器件表面圖像邊緣的提取。將采集到的彩色圖像利用灰度化算法進(jìn)行處理,以達(dá)到邊緣提取的圖像處理要求;由于圖像采集和傳輸過程中容易產(chǎn)生的噪聲,文中提出一種改進(jìn)的小波閾值去噪算法實(shí)現(xiàn)圖像去噪,同時(shí)能保護(hù)圖像邊緣清晰完整;圖像邊緣提取采用 B樣條小波邊緣檢測(cè)算法,通過算法仿真試驗(yàn)并與其它算法進(jìn)行比較,結(jié)果表明:此算法能抑制噪聲及提高圖像邊緣提取的完整