塊狀半導(dǎo)體材料制備過程的理論和實驗研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文針對物理氣相輸運方法(PVT)制備SiC單晶以及機(jī)械合金化結(jié)合等離子體燒結(jié)(MA-PAS)的方法制備摻入S元素的Bi2Te3-基熱電材料這兩個比較典型的大塊狀半導(dǎo)體材料的制備過程分別進(jìn)行了數(shù)值模擬與實驗研究。
  作為第三代半導(dǎo)體材料的典型代表,SiC由于其優(yōu)良的理化性質(zhì)而被廣泛運用在高溫度、強(qiáng)輻射、高電壓、高電流密度的極端條件下的半導(dǎo)體器件中。PVT法是生產(chǎn)大塊狀 SiC單晶最常用的一種方法,因為在 PVT生長 SiC單晶的

2、過程中,裝置是完全封閉的,我們很難實時的檢測生長腔內(nèi)的溫度,物質(zhì)濃度等相關(guān)物理量的變化,所以有必要運用數(shù)值模擬的方法來對該過程預(yù)先做出數(shù)值模擬研究以指導(dǎo)實際的生產(chǎn)過程。通過研究我們發(fā)現(xiàn)生長腔內(nèi)軸向上的溫度梯度、操作壓力、籽晶表面溫度等工藝參數(shù)對于晶體生長速率具有重要的影響,具體說來,隨著生長腔內(nèi)溫度梯度的增加,壓力的降低或者是生長溫度的升高,SiC的晶體生長速度加快。
  Bi2Te3系熱電材料因其在室溫下良好的熱電性能而被廣泛運

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