電阻抗圖像重建算法研究.pdf

1、電阻抗斷層成像技術(shù)(Electrical Impedance Tomography，EIT)是一種有著廣闊發(fā)展前景的新穎成像技術(shù)。它將測(cè)量電極放置在被測(cè)物體的表面，以電流或電壓的方式提取測(cè)量電信息。之后將電信息送至計(jì)算機(jī)，通過(guò)重建算法，得到被測(cè)對(duì)象的實(shí)時(shí)剖面圖像。和以往的成像技術(shù)如X-射線計(jì)算機(jī)斷層成像(X-ray Computerized Tomography，CT)、核磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging

2、，MRI)相比，它具有很好的便攜性、重復(fù)性和實(shí)時(shí)性。
　　EIT成像的必要過(guò)程就是場(chǎng)域剖分。為了研究其對(duì)EIT問(wèn)題的求解效率及計(jì)算精度的影響，本文利用有限元仿真軟件COMSOL Multiphysics，對(duì)求解場(chǎng)域進(jìn)行了不同疏密程度的剖分;采用數(shù)學(xué)軟件MATLAB，根據(jù)共軛梯度算法進(jìn)行重建。仿真結(jié)果基于多種評(píng)價(jià)指標(biāo)，以圖形化、數(shù)字化的方式，從EIT正、逆問(wèn)題的不同角度，評(píng)價(jià)了場(chǎng)域剖分對(duì)求解質(zhì)量的影響。結(jié)果表明，場(chǎng)域剖分細(xì)化程度的增