航天繼電器可靠性壽命試驗分析系統(tǒng)的研究.pdf

1、航天繼電器具有靈敏度高、功耗低等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于航空航天及國防工業(yè)的各個領(lǐng)域。航天繼電器可靠性電壽命試驗是可靠性試驗的重要環(huán)節(jié)，是獲取產(chǎn)品電壽命指標(biāo)和評價產(chǎn)品可靠性高低的重要手段。對于可靠性要求較高的航天繼電器而言，有必要深入研究可靠性壽命試驗過程的每個環(huán)節(jié)。
　　現(xiàn)有的航天繼電器可靠性壽命試驗在試驗過程中只連續(xù)監(jiān)測觸點壓降是否超限，并定期人工檢測接觸電阻等參數(shù)是否正常，以此作為繼電器的失效判據(jù)。試驗結(jié)束后，通常采用人工圖估計法對

2、試驗數(shù)據(jù)進(jìn)行失效分析處理，以獲得可靠性指標(biāo)。上述試驗過程需人工參與，自動化程度不高，受主觀因素影響大。同時，試驗過程中監(jiān)測參數(shù)少，無法定量評價接觸特性的退化過程，甚至還會漏判一些突發(fā)失效，從而影響可靠性指標(biāo)的準(zhǔn)確度。因此研究多參數(shù)監(jiān)測的航天繼電器可靠性壽命試驗方法，設(shè)計自動化程度高的可靠性壽命試驗系統(tǒng)，改進(jìn)壽命試驗數(shù)據(jù)的失效分析技術(shù)，對科學(xué)、準(zhǔn)確地評價航天繼電器可靠性具有重要的實際意義。
　　本文綜合國內(nèi)外研究現(xiàn)狀，在研究繼電器各

3、種失效機(jī)理的基礎(chǔ)上，提出一種實時監(jiān)測接觸電阻、超程時間、彈跳時間等多個特性參數(shù)的航天繼電器可靠性壽命試驗方法，并提出航天繼電器可靠性壽命試驗分析系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)和總體設(shè)計方案。
　　該系統(tǒng)綜合利用ARM計算分析功能強(qiáng)和FPGA邏輯控制靈活性高的特點，完成了特性參數(shù)采集、計算和分析功能模塊的硬件和軟件設(shè)計。系統(tǒng)采用集散式控制結(jié)構(gòu)，可同時管理多個樣品的試驗進(jìn)程，通過 CAN總線可靈活變更樣品的測試數(shù)量；采用達(dá)林頓推挽技術(shù)設(shè)計了線圈驅(qū)動電