2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、電磁爐維修手冊(cè)電磁爐故障維修上篇2008年03月03日星期一下午03:22458系列須然機(jī)種較多且功能復(fù)雜但不同的機(jī)種其主控電路原理一樣區(qū)別只是零件參數(shù)的差異及CPU程序不同而己。電路的各項(xiàng)測(cè)控主要由一塊8位4K內(nèi)存的單片機(jī)組成外圍線路簡(jiǎn)單且零件極少并設(shè)有故障報(bào)警功能故電路可靠性高維修容易維修時(shí)根據(jù)故障報(bào)警指示對(duì)應(yīng)檢修相關(guān)單元電路大部分均可輕易解決。3.2主板檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)由于電磁爐工作時(shí)主回路工作在高壓、大電流狀態(tài)中所以對(duì)電路檢查時(shí)必須將線

2、盤(L1)斷開(kāi)不接否則極容易在測(cè)試時(shí)因儀器接入而改變了電路參數(shù)造成燒機(jī)。接上線盤試機(jī)前應(yīng)根據(jù)3.2.1對(duì)主板各點(diǎn)作測(cè)試后一切符合才進(jìn)行。3.2.1主板檢測(cè)表(8)V3電壓過(guò)高或過(guò)低過(guò)高檢查R51、D16過(guò)低查R78、C13。(9)V4電壓過(guò)高或過(guò)低過(guò)高檢查R52、D15過(guò)低查R74、R75。(10)Q6基極電壓過(guò)高或過(guò)低過(guò)高檢查R53、D25過(guò)低查R76、R77、C6。(11)D24正極電壓過(guò)高或過(guò)低過(guò)高檢查D24及接入的30K電阻過(guò)低

3、查R59、C16。(12)D26正極電壓過(guò)高或過(guò)低過(guò)高檢查D26及接入的30K電阻過(guò)低查R58、C18。(13)動(dòng)檢時(shí)Q1G極沒(méi)有試探電壓首先確認(rèn)電路符合中第1~12測(cè)試步驟標(biāo)準(zhǔn)要求如果不符則對(duì)應(yīng)上述方法檢查如確認(rèn)無(wú)誤測(cè)V8點(diǎn)如有間隔試探信號(hào)電壓則檢查IGBT推動(dòng)電路如V8點(diǎn)沒(méi)有間隔試探信號(hào)電壓出現(xiàn)再測(cè)Q7發(fā)射極有否間隔試探信號(hào)電壓如有則檢查振蕩電路、同步電路如果Q7發(fā)射極沒(méi)有間隔試探信號(hào)電壓再測(cè)CPU第13腳有否間隔試探信號(hào)電壓如有則

4、檢查C33、C20、Q7、R6如果CPU第13腳沒(méi)有間隔試探信號(hào)電壓出現(xiàn)則為CPU故障。(14)動(dòng)檢時(shí)Q1G極試探電壓過(guò)高檢查R56、R54、C5、D29。(15)動(dòng)檢時(shí)Q1G極試探電壓過(guò)低檢查C33、C20、Q7。(16)動(dòng)檢時(shí)風(fēng)扇不轉(zhuǎn)測(cè)CN6兩端電壓高于11V應(yīng)為風(fēng)扇不良如CN6兩端沒(méi)有電壓測(cè)CPU第15腳如沒(méi)有電壓則為CPU不良如有請(qǐng)檢查Q5、R5。(17)通過(guò)主板1~14步驟測(cè)試合格仍不啟動(dòng)加熱故障現(xiàn)象為每隔3秒發(fā)出“嘟”一聲短

5、音(數(shù)顯型機(jī)種顯示E1)檢查互感器CT次級(jí)是否開(kāi)路、C15、C31是否漏電、D20~D23有否不良如這些零件沒(méi)問(wèn)題請(qǐng)?jiān)傩⌒臏y(cè)試Q1G極試探電壓是否低于1.5V。3.3故障案例3.3.1故障現(xiàn)象1:放入鍋具電磁爐檢測(cè)不到鍋具而不啟動(dòng)指示燈閃亮每隔3秒發(fā)出“嘟”一聲短音(數(shù)顯型機(jī)種顯示E1)連續(xù)1分鐘后轉(zhuǎn)入待機(jī)。分析:根椐報(bào)警信息此為CPU判定為加熱鍋具過(guò)小(直經(jīng)小于8cm)或無(wú)鍋放入或鍋具材質(zhì)不符而不加熱并作出相應(yīng)報(bào)知。根據(jù)電路原理電磁爐

6、啟動(dòng)時(shí)CPU先從第13腳輸出試探PWM信號(hào)電壓該信號(hào)經(jīng)過(guò)PWM脈寬調(diào)控電路轉(zhuǎn)換為控制振蕩脈寬輸出的電壓加至G點(diǎn)振蕩電路輸出的試探信號(hào)電壓再加至IGBT推動(dòng)電路通過(guò)該電路將試探信號(hào)電壓轉(zhuǎn)換為足己另IGBT工作的試探信號(hào)電壓另主回路產(chǎn)生試探工作電流當(dāng)主回路有試探工作電流流過(guò)互感器CT初級(jí)時(shí)CT次級(jí)隨即產(chǎn)生反映試探工作電流大小的電壓該電壓通過(guò)整流濾波后送至CPU第6腳CPU通過(guò)監(jiān)測(cè)該電壓再與VAC電壓、VCE電壓比較判別是否己放入適合的鍋具。

7、從上述過(guò)程來(lái)看要產(chǎn)生足夠的反饋信號(hào)電壓另CPU判定己放入適合的鍋具而進(jìn)入正常加熱狀態(tài)關(guān)鍵條件有三個(gè)關(guān)鍵條件有三個(gè):一是加入Q1G極的試探信號(hào)必須足夠通過(guò)測(cè)試Q1G極的試探電壓可判斷試探信號(hào)是否足夠(正常為間隔出現(xiàn)1~2.5V)而影響該信號(hào)電壓的電路有PWM脈寬調(diào)控電路、振蕩電路、IGBT推動(dòng)電路。二是二是互感器CT須流過(guò)足夠的試探工作電流一般可通測(cè)試Q1是否正??珊?jiǎn)單判定主回路是否正常在主回路正常及加至Q1G極的試探信號(hào)正常前提下影響流

8、過(guò)互感器CT試探工作電流的因素有工作電壓和鍋具。三是三是到達(dá)CPU第6腳的電壓必須足夠影響該電壓的因素是流過(guò)互感器CT的試探工作電流及電流檢測(cè)電路。以下是有關(guān)這種故障的案例:(1)測(cè)22V電壓高于24V按3.2.2第(3)項(xiàng)方法檢查結(jié)果發(fā)現(xiàn)Q4擊穿。結(jié)論:由于Q4擊穿造成22V電壓升高另IC2D正輸入端V9電壓升高導(dǎo)至加到IC2D負(fù)輸入端的試探電壓無(wú)法另IC2D比較器翻轉(zhuǎn)結(jié)果Q1G極無(wú)試探信號(hào)電壓CPU也就檢測(cè)不到反饋電壓而不發(fā)出正常加

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