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文檔簡介
1、隨著先進(jìn)制造技術(shù)的發(fā)展,反求工程技術(shù)越來越顯示出其重要性,而且對反求工程技術(shù)也提出越來越高的技術(shù)要求。三維物體測量是反求工程的基礎(chǔ),現(xiàn)有的測量技術(shù)可以滿足對物體一般的表面輪廓測量,但在不能破壞物體的前提下測量(也就是無損測量)封閉物體的內(nèi)部輪廓時(shí)就顯得無能為力了。工業(yè)CT斷層掃描利用物體對射線不同的衰減程度而重建出斷層圖像,可以通過斷層圖像同時(shí)無損地測量物體的內(nèi)外輪廓,得到零件完整的斷層模型。基于工業(yè)CT斷層掃描的快速反求工程系統(tǒng)有助于
2、縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)周期,降低生產(chǎn)設(shè)計(jì)成本,加速我國對世界工業(yè)發(fā)達(dá)國家的跟蹤和趕超。本文系統(tǒng)研究了基于工業(yè)CT斷層掃描的快速反求工程所涉及到的關(guān)鍵技術(shù)。 基于工業(yè)CT斷層掃描零件的過程實(shí)際上是快速原型機(jī)制造過程的一個(gè)逆過程,成型機(jī)驅(qū)動數(shù)據(jù)就是一層一層的輪廓數(shù)據(jù),而測量的數(shù)據(jù)也是一層一層的輪廓數(shù)據(jù),可以將測量所得的層輪廓數(shù)據(jù)經(jīng)過處理直接滿足成型機(jī)的需要。因而本文研究了由工業(yè)CT掃描所得的斷層數(shù)據(jù)直接驅(qū)動快速原型機(jī)的反求過程,這樣的
3、處理方法首先是無損的且具有速度快、精度高、數(shù)據(jù)量小的優(yōu)點(diǎn),而且避免了復(fù)雜的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換過程和STL格式所帶來的缺點(diǎn),也減少了中間轉(zhuǎn)換的誤差。 基于工業(yè)CT的斷層掃描圖像數(shù)據(jù),采用了首先對灰度圖像進(jìn)行去噪、圖像增強(qiáng)、銳化等,再進(jìn)行圖像二值化后對圖像作進(jìn)一步的處理分析,這樣可以簡化圖像的后續(xù)處理,以提高圖像的質(zhì)量。圖像二值化采用了迭代法求取圖像最佳閾值進(jìn)行灰度分割,得到二值圖像。 通過對現(xiàn)有輪廓提取方法的比較,作者針對所研究的工
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