2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、隨著芯片的復(fù)雜度的快速增長(zhǎng),驗(yàn)證成為集成電路開發(fā)過程中面臨的最有挑戰(zhàn)性的一個(gè)環(huán)節(jié)。驗(yàn)證要占整個(gè)設(shè)計(jì)開發(fā)60%~80%的工作量。越來(lái)越多的項(xiàng)目開始采用基于SystemVerilog的驗(yàn)證方法學(xué)來(lái)獲得更多的重用擴(kuò)展性、更全面的功能覆蓋率,以及更合理的層次化驗(yàn)證結(jié)構(gòu)。
   本文基于VMM(Verification Methodology Manual)驗(yàn)證方法學(xué)來(lái)驗(yàn)證U-key芯片中7816接口模塊。實(shí)現(xiàn)了模塊級(jí)驗(yàn)證高效、層次化、可

2、重用驗(yàn)證平臺(tái)的搭建。分析了7816模塊的功能點(diǎn),編寫功能覆蓋率模型,并且對(duì)FIFO的異常狀態(tài)進(jìn)行了斷言驗(yàn)證。并開發(fā)測(cè)試用例完成了7816所有功能的仿真驗(yàn)證。功能覆蓋率為100%,條件覆蓋率為95.1%,行覆蓋率為98.7%,狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)覆蓋率為100%。闡述了如何將功能覆蓋率,RAL(Register Abstraction Layer),斷言與以往的驗(yàn)證方法有效地結(jié)合。說(shuō)明結(jié)合功能覆蓋率、RAL和斷言為導(dǎo)向的驗(yàn)證方法提高了驗(yàn)證過程中的觀

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