LED晶片檢測(cè)中的電極定位圖像處理及算法研究.pdf

1、圖像分析與處理是LED晶片檢測(cè)、分揀設(shè)備的關(guān)鍵環(huán)節(jié),本課題的研究目的就是提取圖像LED晶片圖像特征信息,獲取晶片晶粒的形狀、位置、姿態(tài)等參數(shù),最終生成機(jī)構(gòu)的運(yùn)動(dòng)控制命令。為了滿足機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性、實(shí)時(shí)性和魯棒性的要求,選擇合適的圖像處理算法,顯得尤為重要。本文的研究?jī)?nèi)容如下:
　　研究了圖像的預(yù)處理算法,對(duì)自適應(yīng)中值濾波進(jìn)行改進(jìn),運(yùn)用基于并行運(yùn)算的自適應(yīng)中值濾波算法,對(duì)圖像進(jìn)行平滑增強(qiáng);同時(shí),對(duì)圖像做了畸變校正,消除了徑向畸變

2、的影響;研究分析LED晶片的圖像灰度特征和形態(tài)特征,為后續(xù)高速、精確、穩(wěn)健的晶片識(shí)別算法研究提供了保障。
　　基于模板匹配的目標(biāo)識(shí)別算法,本文分別研究了SSD、SAD、NCC模板匹配算法,并運(yùn)用金字塔算法優(yōu)化了搜索空間。根據(jù)晶片圖像灰度信息,對(duì)圖像進(jìn)行閾值分割、區(qū)域連通,運(yùn)用基于區(qū)域的矩匹配算法實(shí)現(xiàn)了LED晶片的快速識(shí)別定位。根據(jù)LED晶片的形態(tài)特征,本文研究了基于邊緣方向的模板匹配算法,運(yùn)用基于HDevelop的形狀匹配算子,實(shí)

3、現(xiàn)了多種LED晶片的目標(biāo)識(shí)別,同時(shí)優(yōu)化了算子參數(shù),提高了晶片識(shí)別的速度和精度。
　　特征分析及描述算法,完成LED晶片的快速識(shí)別定位后,用Canny邊緣檢測(cè)算子對(duì)晶片進(jìn)行亞像素邊緣提取,運(yùn)用轉(zhuǎn)軸法對(duì)異形電極進(jìn)行像素級(jí)粗定位,根據(jù)異形電極邊緣的相對(duì)位置,尋找異形電極直線邊緣的ROI區(qū)域,通過(guò)亞像素直線擬合算法,實(shí)現(xiàn)了異形電極直線邊緣的擬合。最后,運(yùn)用帶約束的最小二乘圓擬合算法完成了圓形電極的精確定位。
　　本課題以VC++6.