功耗限制下RTL數(shù)據(jù)通路低費用測試方法研究.pdf

1、大規(guī)模集成電路制造必然需要測試以保證產(chǎn)品良率,測試成為集成電路生產(chǎn)不可或缺的環(huán)節(jié)。然而集成電路中晶體管密度成指數(shù)倍增加,導致測試成本越來越高,因此集成電路測試成為當前研究的挑戰(zhàn)。昂貴的測試費用和過高的測試功耗已經(jīng)成為制約超大規(guī)模集成電路發(fā)展的瓶頸,在以降低測試應用時間為目的的高級尤其是寄存器傳輸級(RTL)可測試性設計成為低費用測試研究的重點。
　　 首先,針對RTL數(shù)據(jù)通路,本文提出一種受控線性移位內(nèi)建自測試方法。這種方法結(jié)合

2、門級掃描測試和內(nèi)建自測試的優(yōu)點,其測試應用時間短,硬件開銷小。受控線性移位結(jié)構由移位寄存器和控制器組成,本文利用RTL數(shù)據(jù)通路中的寄存器做為移位寄存器,通過從移位寄存器最高位輸入單位控制碼生成測試向量。
　　 其次,本文提出了一種全新的測試生成方法,研究利用RTL數(shù)據(jù)通路中加法器、減法器、乘法器等功能模塊的結(jié)構特點,結(jié)合提出的受控線性移位內(nèi)建自測試方法,對被測模塊進行測試,以降低測試應用時間和硬件開銷。加法器、減法器和陣列乘法器

3、由多個全加器(或半加器)組成,其測試生成可由一位全加器(或半加器)的測試向量拼接而成。
　　 再次,針對RTL數(shù)據(jù)通路,本文提出了一種測試綜合和測試調(diào)度方法。在測試綜合中,本文提出了一種啟發(fā)性方法,給每個被測模塊分配移位寄存器和響應分析器;在測試調(diào)度中,提出一種改進算法,在非等長測試中利用測試過程中測試資源的變化,增加一次測試會話過程中測試集合的個數(shù),在功耗約束下減少測試應用時間。
　　 最后,針對幾個常用的RTL數(shù)據(jù)通