存儲器測試方法的研究與測試程序的實(shí)現(xiàn).pdf

1、超深亞微米等技術(shù)的應(yīng)用使得電路的集成度日益增高,大規(guī)模數(shù)字集成電路的測試難度越來越大,芯片測試尤其是存儲器的測試遇到了前所未有的挑戰(zhàn),已經(jīng)成為制約整個行業(yè)發(fā)展的瓶頸。隨著人們對元器件可靠性的日益重視,國內(nèi)很多從事電子行業(yè)的單位都配備了集成電路及其它電子元器件的測試系統(tǒng)。但從國外引進(jìn)的大型測試系統(tǒng),往往存在測試程序少、測試適配器單一等問題,各單位缺乏既了解設(shè)備又熟悉器件的技術(shù)人員,導(dǎo)致設(shè)備利用率不高。
　　 本論文主要針對實(shí)際工作

2、中存儲器在測試應(yīng)用方面遇到的問題,提出解決辦法。首先,介紹了存儲器、測試系統(tǒng)及測試技術(shù)的發(fā)展與趨勢。論述了存儲器的工作原理、故障模式以及故障模型,然后研究了存儲器的測試方法,產(chǎn)生測試圖形的測試算法,并按照圖形的長度進(jìn)行了分類研究。這些算法復(fù)雜程度不同,故障覆蓋率也不同,在實(shí)際應(yīng)用中可以適當(dāng)選取。接著還對存儲器內(nèi)建自測試技術(shù)(BIST)進(jìn)行了展望,基于BIST的測試技術(shù)的發(fā)展和完善是VLSI制造業(yè)面臨的一項(xiàng)重要課題。
　　 最后,