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文檔簡介
1、負熱膨脹(Negative thermal expansion,簡稱NTE)材料研究是材料科學中近年來新興的學科分支,其中負熱膨脹性金屬氧化物具有負熱膨脹系數(shù)大、響應(yīng)溫度范圍寬等優(yōu)點,在光學平面鏡、光纖通信領(lǐng)域、醫(yī)用材料、低溫傳感器、熱電偶及日常生活等方面有巨大的潛在應(yīng)用價值。特別是新型氧化物ZrW2O8材料,在很寬的溫度范圍內(nèi)(-272.7~777℃)表現(xiàn)為良好的各向同性負熱膨脹特性,熱膨脹系數(shù)達到—8.7×10—6℃—1。鑒于ZrW
2、2O8的獨特性質(zhì),本文圍繞著ZrW2O8粉體、薄膜的制備及其負熱膨脹特性開展了相關(guān)的研究工作。 以硝酸氧鋯[ZrO(NO3)2·5H2O]和鎢酸銨[N5H37W6O24·H2O]為原料,分別通過共沉淀法、溶膠凝膠法和水熱合成法制備ZrW2O8粉體,考察不同反應(yīng)條件、添加劑種類,如聚乙二醇(PEG)、十二烷基苯磺酸鈉(SDBS)、十六烷基三甲基溴化銨(CTAB)、聚乙烯醇(PVA)、聚乙烯吡咯烷酮(PVP)等對粉體粒徑及形貌的影響
3、并探討其作用機理,進而考察負熱膨脹特性與粉體粒徑的關(guān)系。采用溶膠凝膠和水熱法制備ZrW2O8薄膜,以檸檬酸、酒石酸、PVA等為添加劑,并通過旋涂法進行鍍膜,考察薄膜的形成工藝、初步探索薄膜的形成機理以及負熱膨脹特性,揭示薄膜制備工藝關(guān)鍵因素對薄膜化學組成及結(jié)構(gòu)的影響規(guī)律。 對所得粉體的前驅(qū)體進行熱重—差熱(TG—DSC)分析;以X射線衍射儀(XRD)對所得粉體及薄膜進行物相分析;以掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM
4、)以及原子力顯微鏡(AFM)對粉體及薄膜的形貌進行表征。利用變溫X射線衍射儀精確收集粉體在不同溫度下的XRD數(shù)據(jù),以Powder X、Material Studio軟件分別計算在不同溫度下的晶胞參數(shù),進而計算其負熱膨脹系數(shù)。以X射線光電子能譜儀(XPS)對薄膜的化學組成和狀態(tài)進行分析。 所得結(jié)果如下: ZrW2O8粉體:(1)采用共沉淀法制備得到單一立方相ZrW2O8粉體,加入不同類型的添加劑后,有效的減小粉體顆粒尺寸
5、。其中PEG(20000)當加入量為nPEG/nmetaliron=0.032時,由于單層吸附提供的空間位阻效應(yīng)得到平均尺寸約為0.4×0.4μm的超細ZrW2O8粉體。添加劑對熱膨脹系數(shù)的影響較小,從室溫到500℃范圍內(nèi)平均熱膨脹系數(shù)約為—6.00×10—6℃—1。(2)只有HCl和HNO3才能提供用于溶膠—凝膠法制備ZrW2O8粉體合成的酸性介質(zhì),所得粉體形貌從納米顆粒變?yōu)榘魻钋邑摕崤蛎浵禂?shù)隨顆粒的減小而減小。(3)采用水熱法在57
6、0℃保溫6h制備得到ZrW2O8粉體。所得粉體為規(guī)則的棒狀,平均尺寸約為1.2×1.2×10μm。粉體具有良好的負熱膨脹特性,從室溫到500℃,熱膨脹系數(shù)約為-6.30×10-6℃-1。采用HNO3為介質(zhì)時,當將水熱溫度降至160℃時,所得粉體的顆粒尺寸降至納米級,呈現(xiàn)納米球形狀。加入添加劑SDBS后,粉體顆粒尺寸從原來的1.2×1.2×10μm減小至0.4μm,形狀逐漸由棒狀轉(zhuǎn)變?yōu)轭惽蛐巍訝顖A盤。SDBS的加入對粉體整體的負熱膨脹性
7、能無影響,從室溫到500℃的平均熱膨脹系數(shù)約為-5.8×10-6℃-1。 ZrW2O8薄膜:(1)采用溶膠凝膠法制備薄膜時,以檸檬酸為添加劑,隨著檸檬酸量的增加,改善了ZrW2O8薄膜的開裂現(xiàn)象,所得薄膜致密、無明顯的裂紋和孔洞,但表面較粗糙。薄膜和基片的結(jié)合力提高至9.01N。薄膜表現(xiàn)為良好的負熱膨脹性能,從室溫到500℃范圍內(nèi)的平均熱膨脹系數(shù)隨著檸檬酸量的增加從-12.82×10-6℃-1變?yōu)?9.84×10-6℃-1。(
8、2)采用原位水熱法制備得到的ZrW2O8薄膜由棒狀顆粒組成,沒有形成連續(xù)的薄膜。當以檸檬酸和酒石酸為添加劑時,均能制備得到連續(xù)ZrW2O8薄膜,薄膜由相互交疊,形成網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)的納米棒顆粒組成。所得薄膜具有良好的負熱膨脹性能,兩者從室溫到500℃范圍內(nèi)平均熱膨脹系數(shù)分別約為-10.76×10-6℃-1和-12.24×10-6℃-1。(3)所有ZrW2O8薄膜在可見光區(qū)域完全透光。與粉體相比,ZrW2O8薄膜α-ZrW2O8向β-ZrW2O8
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