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文檔簡介
1、一維納米材料的制備及性能研究是當今凝聚態(tài)物理、材料科學等領域研究的熱點,也是最前沿的領域之一。SiC納米線作為一種一維納米材料,有著十分優(yōu)異的場致電子發(fā)射性能,可作為新型電子光源,這將使它在圖像顯示技術等領域發(fā)揮巨大的作用并有著廣闊的應用前景。目前SiC納米線的研究剛剛起步,仍然處在基礎研究階段,如基本無法實現(xiàn)SiC納米線的可控制備,因此急需發(fā)展新的制備技術和工藝。本論文研究了以碳納米管為模板制備SiC納米線的技術,在SiC納米線的可控
2、制備方面做了一些探索性工作。主要在以下幾個方面獲得了一些創(chuàng)新性的結果: 1、發(fā)展了一種新穎的SiC納米線的制備技術—碳納米管模板法:首先制備出碳納米管,然后在其上覆蓋Si原子經退火合成SiC納米線。實現(xiàn)了SiC納米線的可控制備。 2、用乙炔和氫氣在直流PECVD設備中制備出了潔凈度高、可控生長的碳納米管,這種方法現(xiàn)在報道極少。采用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察碳納米管的形貌,用X射線衍射(XRD)、X射線光電子譜儀(XPS
3、)及Raman光散射儀分析了碳納米管的結構和成分等特征。系統(tǒng)研究了碳納米管制備的工藝技術路線,通過調整工藝,制備出了各種不同參數(直徑、長度、密度等)的碳納米管。 3、在碳納米管可控制備的基礎上,采用在其上覆蓋Si原子并退火的方法合成了SiC納米線。經過各種表征手段,如用X射線衍射(XRD)、X射線光電子譜儀(XPS)及Raman光散射儀分析了樣品的結構和成分等特征,用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察了樣品的形貌,用充分的證據證明了
4、用這種方法確實制備出了SiC納米線。系統(tǒng)研究了不同工藝參數(退火溫度、退火時間及Si覆蓋量等)對SiC納米線的影響。通過調整工藝,制備出了具有不同參數的SiC納米線,實現(xiàn)了SiC納米線的可控制備。首次發(fā)現(xiàn)SiC納米線的定向性相比原來作為模板的碳納米管有了一定程度的提高。退火溫度對SiC納米線的晶化程度有著至關重要的影響,研究發(fā)現(xiàn),退火溫度要達到1200℃以上時才能形成結晶比較好的β-SiC立方結構。退火時間也對SiC納米線的結構起著重要
5、的影響,一般來說,時間長一些,晶化程度也要好一些。 4、研究比較了碳納米管及SiC納米線的場致電子發(fā)射性質,發(fā)現(xiàn)這兩種材料的密度與場發(fā)射性能密切相關,當密度比較大時,由于屏蔽效應會造成閾值場強增大;對碳納米管來說,電極間距分別為100μm、200μm和300μm時,閾值場強分別為24V/μm、13V/μm和11V/μm,隨著電極間距的增大,閾值場強降低,SiC納米線也有同樣的規(guī)律;在其他條件相同的情況下,長度越長,則閾值場強越小
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