光散射法在顆粒測量技術(shù)中的應(yīng)用.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著社會文明的進步、科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展,出現(xiàn)了越來越多與細微顆粒密切相關(guān),并且影響著工業(yè)發(fā)展以及海洋探測,環(huán)境治理和科學(xué)研究等亟待解決的問題,顆粒的粒徑及分布和濃度是目前顆粒測量的主要內(nèi)容。在眾多測量方法中,光全散射法由于測量原理簡單、測量方便和成本低等優(yōu)點被廣泛使用。
   本文介紹了目前顆粒測量技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r,分析了光散射的產(chǎn)生機理和基本原理--Mie理論,并進行了數(shù)值模擬。詳細描述了蒙特卡洛方法模擬偏振光的散射過程,介紹了

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