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文檔簡介
1、該論文主要對XRD的儀器設備情況及數據采集處理情況作了全面探討,并對Rietveld全譜擬合物相定性定量分析法的實用性做了分析與驗證,在物相分析過程中提出了自己的見解.全文概括起來包括以下幾個方面的內容:第一章主要介紹了粉末衍射物相分析的發(fā)展概況,以及對這一課題進行研究的重要意義.第二章首先介紹了晶體學的相關知識,闡述了X射線衍射的布拉格定律;然后從電子、原子、晶胞、理想小晶體與實際小晶體的散射層層展開,討論了X射線經過晶體時與之發(fā)生的
2、相互作用;最后扼要介紹了Rietveld全譜擬合的基本理論.第三章從衍射儀的基本構造出發(fā),結合BDX90衍射儀的具體操作方法,給出了多晶粉末衍射儀的實驗技術及各注意事項.其中包括實驗條件的準備、光路調整、實驗參數的選擇、樣品的制備及圖譜的預處理等,為做全譜擬合物相分析作好準備.在第四章中,首先給出了定性分析的基本原理,并介紹了目前國際上通用的PDF卡片及各種索引方法,主要包括字母索引和數值索引.第五章從Rietveld全譜擬合的基本理論
3、出發(fā),通過步進掃描獲取高分辨的衍射譜線及大量的數據組,利用相關軟件對所得數據進行平移、減背景等處理,通過對各衍射峰形進行多次譜線擬合,我們給出各個衍射峰的數學函數模型并求得各衍射峰的"凈"積分強度;文章根據第四章定性分析得到的晶體的宏觀對稱性計算了每一晶體在每一晶面的多重性因子及晶胞內各個原子的坐標;對散射因子的計算,我們采用了一個比較理想的模型,即輕質原子以類氫原子處理;重原子的電子則是按電子分布規(guī)律在其主量子軌道上運行,忽略了主量子
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