基于RRAM的DMA模式的測試系統(tǒng)設計.pdf

1、隨著經(jīng)濟發(fā)展和技術的進步，非易失性存儲器（NVM）的地位變得越來越重要。FLASH作為NVM的代表，廣泛應用于各領域。但是受到最小工藝尺寸的限制，F(xiàn)LASH的發(fā)展前景不容樂觀。由于具有相當可觀的微縮化前景，密度高和速度快等特點，阻變存儲器(RRAM)極有可能取代FLASH，成為下一代主流NVM。目前RRAM流片后，主要使用商用測試機對其作測試。但是，商用測試機存在操作復雜，費用昂貴，實用性差等問題，使得RRAM從設計到量產(chǎn)的周期大大延長

2、。一般情況下，RRAM有DMA(Direct Memory Access)模式和用戶模式兩種。DMA模式即直接存儲器訪問，是專用于測試RRAM的模式。用戶模式，即用戶實際使用RRAM進行數(shù)據(jù)讀寫。
　　基于上述考慮，本課題開展RRAM的DMA模式的專用測試系統(tǒng)的設計工作，擬解決其測試問題。課題研制的測試系統(tǒng)具有實用性強，操作方便，價格低廉和性能可靠等特點，可以大大降低RRAM研究單位的測試成本，加快RRAM的研發(fā)。
　　本文

3、首先介紹了商用測試機的國內外研究現(xiàn)狀，討論了RRAM測試面臨的技術問題。其次介紹了RRAM的基本原理，及其在DMA模式下的測試方法，在此基礎上定義了ATE通信協(xié)議與測試流程，然后設計了一款針對RRAM的DMA模式的測試系統(tǒng)。本測試系統(tǒng)有30個激勵通道，1個接收通道，擁有直流參數(shù)測量模塊，可以對RRAM單元進行forming，reset和set等基本測試。它主要由上位機，F(xiàn)PGA，四通道參數(shù)測量單元AD5522和高精度的模數(shù)轉換器AD76