粗糙面上的統(tǒng)計IEM方法.pdf

1、近半個世紀以來，粗糙面的電磁波散射問題一直是廣大科研工作者關注的熱點。針對粗糙面建立的數(shù)學模型也經歷了巨大的發(fā)展。上世紀90年代初期，美國德克薩斯大學教授A.K.Fung以及他的學生Z.Q.Li，K.S.Chen等人創(chuàng)立了IEM算法(IntegratedEquationModel)，又名積分方程模型。該模型可以準確地反映一定粗糙度范圍內地表的散射情況，而且計算效率很高，因此獲得了廣大學者的關注，并且在問世十多年里發(fā)展迅速，前景廣闊。

2、 統(tǒng)計IEM算法又名SIEM(StatisticalIntegralEquationModel)，針對IEM算法的幾個不足之處(在正文中將詳細敘述)作了相應改進，用統(tǒng)計平均的方法計算了局部坐標范圍，菲涅耳散射系數(shù)和IEM模型中三個部分(基爾霍夫項，交叉項和補充項)的能量，并且在Kirchhoff項和Complementary項中加入了Shadowing函數(shù)，通過協(xié)方差矩陣C考慮了照射點之間不同的相關或者不相關的數(shù)學關系，簡化了數(shù)學運