基于主元分析和偏最小二乘的TE過程監(jiān)測(cè)方法的研究.pdf

1、由于生產(chǎn)力的需要，現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)工藝日益復(fù)雜，生產(chǎn)規(guī)模不斷擴(kuò)大，生產(chǎn)系統(tǒng)智能化程度不斷加深。先進(jìn)的過程監(jiān)控系統(tǒng)對(duì)生產(chǎn)效率的提高及系統(tǒng)安全可靠性起到重要的保障作用。然而系統(tǒng)非線性、樣本容量過小、復(fù)雜故障的辨識(shí)等是目前過程監(jiān)控方法研究上存在的主要問題。本文以多元統(tǒng)計(jì)分析方法為核心對(duì)流程工業(yè)的過程監(jiān)控開展了研究：
　　本文分析了過程監(jiān)控技術(shù)的起源與發(fā)展過程，并引入了過程監(jiān)控方法的分類，提出了現(xiàn)今過程監(jiān)控方法上所存在的問題。對(duì)主元分析(PC

2、A)和偏最小二乘(PLS)方法進(jìn)行了理論推導(dǎo)分析，研究了基于主元分析和偏最小二乘法故障檢測(cè)的具體實(shí)現(xiàn)過程。將兩種方法的檢測(cè)結(jié)果對(duì)比，得出偏最小二乘方法優(yōu)于主元分析法的結(jié)論。
　　針對(duì)系統(tǒng)的非線性問題，引入核函數(shù)方法，生成可以解決非線性問題的核主元分析(KPCA)與核偏最小二乘(KPLS)法，并研究了兩種方法故障檢測(cè)的具體實(shí)現(xiàn)過程。將其診斷結(jié)果與未加核函數(shù)處理的方法進(jìn)行對(duì)比，得出核函數(shù)可解決系統(tǒng)非線性問題的結(jié)論。本文研究了田納西-伊