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1、隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展,高速數(shù)字電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)已成為當(dāng)今電子設(shè)計(jì)的主流,復(fù)雜的電磁環(huán)境對(duì)高速、高密度和系統(tǒng)化的數(shù)字電路系統(tǒng)的影響日益顯著,導(dǎo)致電子系統(tǒng)和設(shè)備的正常工作受到擾亂、中斷、甚至敏感器件永久毀傷。為了避免上述情況,需要深入研究微波干擾信號(hào)對(duì)高速數(shù)字電路系統(tǒng)產(chǎn)生影響的過(guò)程、機(jī)制及防護(hù)??紤]到高速數(shù)字電路系統(tǒng)的復(fù)雜性,因此有必要對(duì)高速數(shù)字電路系統(tǒng)的基本電路單元進(jìn)行微波擾亂效應(yīng)的研究。
本文以CMOS反相器為研究對(duì)象,首先
2、根據(jù)電磁場(chǎng)耦合理論,建立了高功率(HPM)輻照下電磁干擾的等效源模型,設(shè)計(jì)了采用直接注入法注入微波干擾信號(hào)的阻抗匹配電路,進(jìn)而模擬了不同頻率、功率微波干擾對(duì)CMOS反相器的影響,總結(jié)了相應(yīng)的效應(yīng)規(guī)律,為研究復(fù)雜CMOS電路的效應(yīng)規(guī)律提供一定參考。其次,采用了一種基于負(fù)載特性的動(dòng)態(tài)參數(shù)新計(jì)算方法,計(jì)算了微波干擾下CMOS反相器的輸出電壓、輸出電流、功耗等關(guān)鍵動(dòng)態(tài)參數(shù)的變化,深刻揭示了微波干擾信號(hào)對(duì)CMOS反相器的影響機(jī)制。最后,搭建了電磁
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