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1、西安電子科技大學(xué)學(xué)位論文獨(dú)創(chuàng)性聲明秉承學(xué)校嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶W(xué)風(fēng)和優(yōu)良的科學(xué)道德,本人聲明所呈交的論文是我個(gè)人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知,除了文中特別加以標(biāo)注和致謝中所羅列的內(nèi)容以外,論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果;也不包含為獲得西安電子科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中做了明確的說明并表示了謝意。申請(qǐng)學(xué)位論文與資料若有不實(shí)之處,本人承擔(dān)一切
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3、學(xué)位論文屬于保密,在 年解密后適用本授權(quán)書。本人簽名:導(dǎo)師簽名:日期日期——————————羔L ——一Y I IIT 1 I U 8 l6 1 1 7 1 1 1 1 3 f i 6 ll 攀.摘要隨著深亞微米集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,集成工藝水平的不斷提高,電路設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展使得電路對(duì)參數(shù)要求越來越高,對(duì)基準(zhǔn)源的性能也提出了挑戰(zhàn)。由于帶隙基準(zhǔn)源能夠?qū)崿F(xiàn)很高電源抑制比和較低溫度系數(shù)以及對(duì)C M O S 工藝的適用性,是目前最佳的基準(zhǔn)源電
4、路。本文采用了帶隙基準(zhǔn)源的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)了一種適用于A D C 電路的低電壓,高精度的帶隙基準(zhǔn)電路。設(shè)計(jì)采用了共柵共源的電流鏡電路,以及去耦電容等濾波電路極大的提高了基準(zhǔn)源對(duì)電源電壓的抑制能力,并通過采取正負(fù)溫度系數(shù)電流一階補(bǔ)償?shù)姆绞剑@得了相對(duì)溫度系數(shù)較低的0 .5 V 基準(zhǔn)電壓源以及電流源。本次設(shè)計(jì)使用了C h a r t e r0 .3 5 9 M 工藝庫并在H S P I C E 下仿真。結(jié)果表明:當(dāng)溫度在.4 5 ℃~8 0 ℃變化
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