已閱讀1頁,還剩59頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀
版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、 密 級: 學(xué)校代碼:10075 分類號: 學(xué) 號:20111541 管理學(xué)碩士學(xué)位論文 管理學(xué)碩士學(xué)位論文 基于粗糙集理論-神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)集成的數(shù)據(jù)流分類方法研究 學(xué) 位 申 請 人:閆春秒 指 導(dǎo) 教 師:任志波 教授 申 請 學(xué) 位 級 別:管理學(xué)碩
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 超深亞微米CMOS器件ESD可靠性研究.pdf
- 超深亞微米CMOS器件GIDL電流及其可靠性研究.pdf
- 深亞微米SDEMOS器件結(jié)構(gòu)及可靠性研究.pdf
- NROM Flash器件、工藝及可靠性研究.pdf
- 0.25微米cmos工藝中多級柵極氧化層完整性的技術(shù)研究
- 0.35微米sonos非易失存儲器件可靠性的改善研究
- 深亞微米MOS器件熱載流子可靠性的物理建模.pdf
- 超深亞微米LDD MOSFET器件模型及熱載流子可靠性研究.pdf
- 基于測試結(jié)構(gòu)的CMOS工藝可靠性評價方法研究.pdf
- 納米CMOS器件的新測量方法并用于可靠性的研究.pdf
- VDMOS器件可靠性的研究.pdf
- IGBT器件熱可靠性的研究.pdf
- 關(guān)于深亞微米器件GOI及NBTI可靠性問題的研究.pdf
- 微米工藝實現(xiàn)納米級CMOS器件方法及技術(shù)研究.pdf
- AlGaN-GaN HEMT器件可靠性研究.pdf
- 功率VDMOS器件的高溫可靠性研究.pdf
- VLSI器件氧化層可靠性的研究.pdf
- 振動環(huán)境下VDMOS器件可靠性研究.pdf
- 功率UDMOS器件封裝及其可靠性研究.pdf
- BCD工藝70V LDMOS器件熱載流子可靠性研究.pdf
評論
0/150
提交評論