talos電鏡基本操作流程serialem版資料

1、Talos電鏡電鏡低溫樣品檢查低溫樣品檢查基本操作流程基本操作流程（SerialEM版）版）一、一、預(yù)檢預(yù)檢1.開啟開啟Col.Valves上樣完成后，待電鏡Column值低于20Log后打開低溫樣品桿shutter，待Column值低于10Log后開啟Col.Valves。開啟后：2.低倍低倍檢查樣品檢查樣品放下熒光屏，把放大倍數(shù)調(diào)至100X左右，低倍下檢查載網(wǎng)支持膜的完整度、冰層厚度、是否有嚴(yán)重污染等情況，將合適的網(wǎng)孔移動(dòng)到熒光屏上

2、小圈位置，并在Stages界面選擇并記錄下適宜進(jìn)行數(shù)據(jù)收集的網(wǎng)孔位置。獲得低倍圖片右鍵拖拽該圖片，使目標(biāo)區(qū)域位于紅十字叉中心，即可定位到該區(qū)域（為了便于聚焦，該步驟最好定位在碳膜上）。定位完成后，點(diǎn)擊View刷新當(dāng)前界面，確認(rèn)目標(biāo)區(qū)域定位正確（位于紅十字叉中心），然后點(diǎn)擊Z_focus運(yùn)行自動(dòng)聚焦Macro，完成后，樣品成像區(qū)域?qū)⑽挥谡裹c(diǎn)正焦點(diǎn)，之后可通過調(diào)整Z軸高度使之達(dá)到目標(biāo)欠焦值（最好不要使用“defocus”鈕，這可能會(huì)造成后