gb t 2423.8-1995跌落試驗(yàn)方法

1、前言本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68232（1975年第二版）基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。這樣，使這項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn)相同，以適應(yīng)國家貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流的需求。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB2423.881《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ed：自由跌落試驗(yàn)方法》和GB2424.681《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》。GB2423.881和GB242

2、4.6是參照準(zhǔn)IEC68232（1975年第二版）基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落起草的。本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都是與IEC68232（1975）、1982年的第一次修改文本，1990年的第二次修改文本完全相同。本標(biāo)準(zhǔn)與前版的主要區(qū)別在于：將GB2423.8和GB2424.6兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)合并成一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)GBT2423.8接IEC682321982年和1990年的兩次修改，對方法二和附錄A做了修改，補(bǔ)充了附錄B。

3、下列是四項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)均屬撞擊試驗(yàn)范疇，有關(guān)規(guī)范應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的使用和運(yùn)輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗(yàn)方法（見附錄B）。GBT2423.51995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊；GBT2423.61995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞；GBT2423.71995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）；GBT2423.3990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)

4、境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)是由中華人民共和國電子行業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)是由全國電子產(chǎn)品環(huán)境條件和環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：郵電部第一研究所、電子行業(yè)部第五研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王裕春、魏蓓、何錦康、于占泉、王樹榮。電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed自由跌落引言引言本試驗(yàn)分為兩種方法：第一種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受的自由跌落，樣品

5、通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次，第二章方法通常是用來模擬附在電纜上的連機(jī)器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)旋轉(zhuǎn)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設(shè)備，（例如）滾筒來實(shí)現(xiàn)的。方法一：自由跌落1.目的確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的最低牢固等級。本使用主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。2.試驗(yàn)條件2.

6、1試驗(yàn)表面試驗(yàn)表面應(yīng)該是混疑土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面。必要時(shí)，有關(guān)規(guī)范可以規(guī)定其它表面。2.2跌落高度是指試驗(yàn)樣品在跌落前懸掛著的時(shí)候，試驗(yàn)表面與離它最近的樣品部分之間的高度。2.3釋放方法釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛的位置自由跌落。釋放時(shí)，要使干擾最小。3.嚴(yán)酷等級應(yīng)從下列諸值中選取跌落高度：（25）、50、（100）、250、（500）、（1000）mm。帶括號的數(shù)值是優(yōu)選值。注：重型設(shè)備不宜經(jīng)受較高的嚴(yán)酷等級。4初

7、始檢測按有關(guān)規(guī)范的規(guī)定對樣品進(jìn)行外觀檢驗(yàn)、電性能和機(jī)械性能檢測。5條件試驗(yàn)5.1應(yīng)按有關(guān)規(guī)范的規(guī)定，使樣品處于正常運(yùn)輸和使用時(shí)的姿態(tài)進(jìn)行自由跌落。5.2除非有關(guān)規(guī)范另有規(guī)定，試驗(yàn)樣品應(yīng)該從每個(gè)規(guī)定的位置跌落兩次。6最后檢測試驗(yàn)樣品按有關(guān)規(guī)范的規(guī)定對樣品進(jìn)行外觀檢驗(yàn)、電性能和機(jī)械性能檢測。7有關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的內(nèi)容當(dāng)有關(guān)規(guī)范采用本試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)給出下列詳細(xì)內(nèi)容：a）試驗(yàn)表面，如果不是混凝土或剛質(zhì)的（見2.1）；b）跌落高度（見第3章）；c）初始檢