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1、電弧等級(jí)代表偵測(cè)的電流峰值通常采用第5級(jí)電弧偵測(cè)靈敏度設(shè)定偵測(cè)峰值電流值Level92.8mApeakLevel85.5mApeakLevel77.7mApeakLevel610mApeakLevel5(出廠默認(rèn)值)12mApeakLevel414mApeakLevel316mApeakLevel218mApeakLevel120mApeak一般高阻抗電弧與電暈產(chǎn)生的高頻脈沖其頻率可在低于30千赫至高于1兆赫范圍內(nèi)變動(dòng)而且持續(xù)時(shí)間可能很
2、短.這些脈沖常常持續(xù)不足10微秒這些短時(shí)脈沖或尖峰信號(hào)不一定會(huì)立即導(dǎo)致?lián)舸┓烹姷珜贊撛谄焚|(zhì)影響.安規(guī)測(cè)試面面觀安規(guī)測(cè)試面面觀─高阻抗電弧的深度探討高阻抗電弧的深度探討前言:前言:以全球市場(chǎng)的觀點(diǎn)而言,產(chǎn)品制造廠商必須依照不同的安規(guī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)來生產(chǎn)符合不同國界產(chǎn)品的需要。例如銷往歐洲的產(chǎn)品要符合如IEC(國際電工技術(shù)委員會(huì))或EN(歐洲標(biāo)準(zhǔn)),或是以美國市場(chǎng)為主的UL標(biāo)準(zhǔn)等。就提高產(chǎn)品的安全性與可靠性來說,抗電測(cè)試(通常稱為高壓測(cè)試、瞬間測(cè)
3、試或安規(guī)測(cè)試)就是產(chǎn)品的品質(zhì)保證,也是日后產(chǎn)品能正常運(yùn)作的依據(jù)。所謂的高壓測(cè)試就是把比正常電壓高的電壓加在被測(cè)設(shè)備(DUT)的通電流導(dǎo)體與不通電流部件之間,其目的是檢測(cè)絕緣超過正常運(yùn)作上可能遇到的情況。而高壓測(cè)試則是被用來證明被測(cè)設(shè)備能在額定電壓下安全地運(yùn)作,而且能夠「抵抗」由電源開關(guān)而來或其它類似的市電輸入電壓現(xiàn)象引起的瞬間超壓。這種測(cè)試也是用來尋找產(chǎn)品缺陷非常有效的方法,例如:導(dǎo)體之間的間隔減小或是絕緣損壞。是什么構(gòu)成介質(zhì)電擊穿呢?
4、應(yīng)該把高阻抗打飛弧(Arcing)的情況看作一種介電失效嗎?最大容許泄漏電流該怎樣正確設(shè)置呢?當(dāng)使用不同高壓測(cè)試儀來測(cè)試產(chǎn)品時(shí),其產(chǎn)生的測(cè)試結(jié)果常常出現(xiàn)這些問題。在高壓儀器中使用的失效探測(cè)線路類型與電流靈敏度設(shè)置常常因幾個(gè)原因而改變。這些原因包括所測(cè)試產(chǎn)品的類型與結(jié)構(gòu)和它們所必須符合的技術(shù)規(guī)格(標(biāo)準(zhǔn))。為了確任適合用途的正確設(shè)置,我們必須先弄清楚“介電擊穿(DielectricBreakdown)”和“擊穿放電(disruptivedi
5、sges)”的一般定義。什么是介質(zhì)崩潰?(什么是介質(zhì)崩潰?(DielectricBreakdown)介質(zhì)崩潰的定義是:介電擊穿是當(dāng)加在電介質(zhì)材料上的電場(chǎng)強(qiáng)度超過臨界值時(shí),流過該電介質(zhì)材料電流的突然增大,而電介質(zhì)材料完全失效的特征是由于一個(gè)突然增加的高電壓而導(dǎo)致其擊穿放電。什么是擊穿放電(什么是擊穿放電(DisruptiveDisge)?)?圖一這些短時(shí)間的脈沖或尖峰不會(huì)立即造成引起電流增大或輸出電壓跌降的擊穿放電。(如上述安全機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)的
6、規(guī)定),如果測(cè)試電壓降低時(shí)電暈停息或者打弧的情況并不表現(xiàn)出電擊或著火的危險(xiǎn),那就不認(rèn)為是失效。所以雖然某些安全標(biāo)準(zhǔn)許可有電暈的被測(cè)設(shè)備通過高壓測(cè)試,但這種電暈卻表示絕緣系統(tǒng)可能有潛在問題。電弧的結(jié)構(gòu)不是一成不變的。例如,在間隔相同時(shí)兩個(gè)圓滑表面之間的擊穿電壓跟兩個(gè)尖針之間的會(huì)有很大不同。電弧發(fā)生點(diǎn)與探測(cè)器之間線路的阻抗與分布電容,也可能影響由電弧探測(cè)器監(jiān)視電流波形產(chǎn)生的didt(電流隨時(shí)間的變化速率)。而電壓量、上升速率、極性和波形全都
7、影響電暈與電弧情況發(fā)生的速度;溫度、濕度和氣壓則會(huì)影響電暈開始出現(xiàn)的電壓和擊穿的電壓電頻。高壓儀怎樣區(qū)分電弧失效和其它的失效?高壓儀怎樣區(qū)分電弧失效和其它的失效?先進(jìn)高壓測(cè)試儀實(shí)際上有三個(gè)分開的探測(cè)器線路去偵測(cè)高壓測(cè)試中失效發(fā)生的原因(參看圖二)圖二泄漏探測(cè)系統(tǒng)泄漏探測(cè)系統(tǒng)(HILOLMT)第一個(gè)探測(cè)器電路是泄漏探測(cè)系統(tǒng)(HILOLMT),這個(gè)線路提供一個(gè)可調(diào)節(jié)的最小電流值、可透過程控或者儀器內(nèi)存的最大電流值,并以每秒3~5次的取樣速率
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