鹽霧試驗(yàn)機(jī)正確的校正方法

1、國家技術(shù)監(jiān)督局國家技術(shù)監(jiān)督局19961213標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)19971101實(shí)施實(shí)施GBT5170.81996前言本標(biāo)準(zhǔn)是GBT5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本標(biāo)準(zhǔn)是GB5170.885的修訂本，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：——明確本標(biāo)準(zhǔn)適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)等?！獪囟葴y(cè)量點(diǎn)的數(shù)量及布放位置以設(shè)備工作室容積2cm3為界，不大于2cm3時(shí)為9點(diǎn)，大于2cm3時(shí)為1

2、5點(diǎn)。——溫度偏差的測(cè)量時(shí)間由24h縮短為30min。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起，代替GB5170.8—85。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：謝建華、付文茹、陳學(xué)進(jìn)、薛振夷、王則燕。GBT5170.8——1996——容量50ml的量筒5檢定條件檢定條件5.1受檢設(shè)備的外觀和安全條件應(yīng)符合GBT5170.11995第8章的要求。

3、5.2檢定氣候環(huán)境條件、電源條件、用水條件應(yīng)滿足GBT5170.11995第4章的要求。5.3檢定應(yīng)在受檢設(shè)備負(fù)載條件下進(jìn)行。鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢定負(fù)載為50mm100mm(1～2)mm的鋼板，數(shù)量按工作空間水平橫截面積每平方米不少于160塊計(jì)。6測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量及位置測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量及位置6.1溫度測(cè)量點(diǎn)6.1.1在被檢定設(shè)備工作室內(nèi)定出上、中、下三個(gè)水平層面(簡稱上、中、下三層)上層與工作室頂面的距離是工作室高度的110中層通過工作室?guī)缀沃行狞c(diǎn)

4、下層在底層樣品架上方10mm處.6.1.2測(cè)量點(diǎn)位于上、中、下三層如圖1和圖2用O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示.6.1.3工作室容積不大于2m3時(shí)測(cè)量點(diǎn)為9個(gè)位置如圖1.門門門上層中層下層圖1測(cè)量點(diǎn)O位于工作室的幾何中心(或離噴霧塔適當(dāng)距離)其他各測(cè)量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)壁的距離為各邊長的110但不小于50mm.6.1.4工作室容積大于2m3時(shí)測(cè)量點(diǎn)為15個(gè)位置如圖2.門門門上層中層下層圖2測(cè)量點(diǎn)E、O、U分別