自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)和OCR在硬盤磁頭測(cè)試中的應(yīng)用.pdf

1、在檢測(cè)硬盤磁頭過(guò)程中，普通的測(cè)試技術(shù)和測(cè)量設(shè)備無(wú)法滿足其高精度的要求，而且效率比較低，機(jī)器視覺(jué)技術(shù)和圖像處理方法提供了一個(gè)優(yōu)異的途徑，其靈活性可以很好的滿足功能上的需求及后續(xù)的擴(kuò)展，使之更快更有效，特別是在高精密工業(yè)中的應(yīng)用尤其廣泛，是以后高精密加工領(lǐng)域的一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)。
　　本課題研究的目的在于通過(guò)對(duì)自動(dòng)對(duì)焦方法和光學(xué)字符識(shí)別技術(shù)的研究為硬盤磁頭測(cè)試項(xiàng)目提供理論依據(jù)。
　　本文的研究主要包括以下幾個(gè)方面：
　　(1)采

2、用優(yōu)化的爬山搜索的方法，分析其在消除噪聲對(duì)焦平穩(wěn)方面的的優(yōu)越性，建立穩(wěn)定可靠的自動(dòng)對(duì)焦方案。
　　(2)研究基于微分梯度函數(shù)的評(píng)價(jià)函數(shù)值，采用優(yōu)化的簡(jiǎn)便算法方法設(shè)計(jì)出基于灰度差值和的評(píng)價(jià)函數(shù)，減少了計(jì)算量，提高了對(duì)焦效率，從各個(gè)環(huán)節(jié)的時(shí)間消耗分析，得出電機(jī)運(yùn)動(dòng)在整個(gè)對(duì)焦過(guò)程中占據(jù)著很大因素，因而提出了基于測(cè)量偏移量的快速對(duì)焦方案，提高了整個(gè)系統(tǒng)對(duì)焦速度。
　　(3)通過(guò)對(duì)二值化的投影匹配在OCR中的應(yīng)用分析，應(yīng)用非嚴(yán)格匹配方