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1、隨著半導(dǎo)體器件尺寸的縮小,片上系統(tǒng)成為低成本設(shè)計(jì)的發(fā)展趨勢(shì),模數(shù)轉(zhuǎn)換器在片上系統(tǒng)中作為模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)的接口,發(fā)揮了越來(lái)越重要的作用。∑△模數(shù)轉(zhuǎn)換器將過(guò)采樣和噪聲整形技術(shù)結(jié)合,能實(shí)現(xiàn)奈圭斯特轉(zhuǎn)換器所難以做到的高精度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,在眾多模數(shù)轉(zhuǎn)換器結(jié)構(gòu)中占有重要的一席之地。隨著半導(dǎo)體工藝技術(shù)的迅速進(jìn)步,∑△模數(shù)轉(zhuǎn)換器也正在朝著低功耗、高精度的方向發(fā)展。 本文設(shè)計(jì)了一個(gè)針對(duì)數(shù)字音頻應(yīng)用的低功耗、高精度∑△模數(shù)轉(zhuǎn)換器,其精度為16比特,信
2、噪比為97dB,有效信號(hào)帶寬為20KHz。圍繞該模數(shù)轉(zhuǎn)換器的研究與設(shè)計(jì),開(kāi)展的主要工作有:設(shè)計(jì)了改進(jìn)型單環(huán)三階單比特∑△調(diào)制器,采用前饋和局部反饋相結(jié)合,保持了良好的噪聲整形性能,同時(shí)降低了積分器的輸出信號(hào)幅度,從而降低了功耗;采用開(kāi)關(guān)電容技術(shù),在0.35um標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝下設(shè)計(jì)并用HSPICE在多工藝角下仿真通過(guò)了調(diào)制器的詳細(xì)電路;設(shè)計(jì)了多級(jí)級(jí)聯(lián)型降采樣數(shù)字低通濾波器,其主要部分通過(guò)了RTL行為級(jí)驗(yàn)證。 在創(chuàng)新性方面,本文在
3、前人工作的基礎(chǔ)上,主要取得了如下成果:改進(jìn)了深亞微米混合信號(hào)電路設(shè)計(jì)流程,其中主要是提出了在電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證中采取SPICE搭建考慮非理想特性的運(yùn)放、開(kāi)關(guān)、比較器的宏模型,從而在適量增加仿真時(shí)間的基礎(chǔ)上提高了行為級(jí)驗(yàn)證的精度;在模數(shù)轉(zhuǎn)換器的系統(tǒng)行為驗(yàn)證中,提出了“數(shù)據(jù)擴(kuò)展法”,能夠以較少的采樣點(diǎn)數(shù)獲得較精確的指標(biāo)評(píng)估;在電路設(shè)計(jì)方面,提出并設(shè)計(jì)了一種新穎的帶隙基準(zhǔn)參考源,它在控制部分僅采用單個(gè)PMOS晶體管,從而避免了傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中雙晶體管的失
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