懸式瓷絕緣子表面等值鹽密與灰密預(yù)測(cè)方法的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、絕緣子表面泄漏電流的變化能綜合反映運(yùn)行絕緣子積污與受潮的變化過(guò)程。國(guó)內(nèi)外關(guān)于鹽密和濕度對(duì)絕緣子表面泄漏電流的影響進(jìn)行了大量的研究，但對(duì)灰密影響的研究較少。本文在人工霧室中進(jìn)行了大量的人工污穢試驗(yàn)，全面分析了鹽密、灰密和濕度的變化對(duì)絕緣子表面泄漏電流的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明：泄漏電流隨著灰密的增加而增大。為了預(yù)測(cè)絕緣子表面污穢程度，本文采用最小二乘支持向量機(jī)算法建立了鹽密和灰密的預(yù)測(cè)模型，并利用遺傳算法對(duì)最小二乘支持向量機(jī)模型的參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)化

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