網(wǎng)絡(luò)化邊緣掃描測(cè)試控制器的研制與系統(tǒng)組建.pdf

1、隨著深亞微米集成電路技術(shù)的發(fā)展,已經(jīng)可以將大多數(shù)甚至所有的系統(tǒng)功能封裝在單個(gè)芯片上。與此同時(shí),越來(lái)越高的芯片集成度和印制板組裝密度,使得外部可訪問(wèn)的引腳數(shù)越來(lái)越少,集成電路和PCB的測(cè)試變得越來(lái)越困難。從而導(dǎo)致芯片測(cè)試可能比芯片的設(shè)計(jì)生產(chǎn)付出的成本還要高。邊緣掃描測(cè)試技術(shù)就是一種將可測(cè)性直接設(shè)計(jì)到硅片里的技術(shù),支持系統(tǒng)級(jí)、板級(jí)、芯片級(jí)等所有層級(jí)的測(cè)試。邊緣掃描測(cè)試技術(shù)為集成電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)提供了一個(gè)測(cè)試接口和體系結(jié)構(gòu),并且已標(biāo)準(zhǔn)化,定為

2、IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)。隨著信息技術(shù)的發(fā)展,人們對(duì)測(cè)試的要求也越來(lái)越高,要求實(shí)現(xiàn)儀器資源的共享和對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制,即實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試。而將網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試技術(shù)同邊緣掃描測(cè)試技術(shù)相結(jié)合,組建網(wǎng)絡(luò)化邊緣掃描測(cè)試系統(tǒng),則能提高邊緣掃描測(cè)試技術(shù)的實(shí)用性。本文利用嵌入式技術(shù)開(kāi)發(fā)了以太網(wǎng)邊緣掃描控制器,此控制器實(shí)現(xiàn)了以太網(wǎng)接入功能,可以測(cè)試任何符合IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的器件、電路板和系統(tǒng)。使用C++語(yǔ)言自主設(shè)計(jì)的軟件接口提供了控制邊緣掃描控制器的動(dòng)態(tài)

3、庫(kù)函數(shù)和自動(dòng)解析邊緣掃描描述語(yǔ)言(Boundary-scanDescriptionLanguage,簡(jiǎn)稱BSDL)文件的類。設(shè)計(jì)了具有四條邊緣掃描鏈路的電路板,作為被測(cè)目標(biāo)。最后,利用邊緣掃描控制器和軟件接口,以及針對(duì)被測(cè)目標(biāo)的測(cè)試算法軟件,組建了網(wǎng)絡(luò)化邊緣掃描測(cè)試系統(tǒng),從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)各被測(cè)鏈路的器件識(shí)別、邊緣掃描鏈路測(cè)試、電路板級(jí)互連線測(cè)試(開(kāi)路和短路故障測(cè)試)以及內(nèi)測(cè)試。本文首先討論了課題的研制背景和意義,以及邊緣掃描技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和