磁盤I-O Trace收集器設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn).pdf

1、磁盤性能如今已經(jīng)成為計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的主要瓶頸之一，CPU發(fā)出讀寫請(qǐng)求的速度和磁盤響應(yīng)的速度越來(lái)越不匹配，因而對(duì)磁盤性能的評(píng)估就顯得越來(lái)越重要。而國(guó)內(nèi)外流行的測(cè)試軟件往往只注重于對(duì)磁盤的幾種基本性能的測(cè)試，如：磁盤的數(shù)據(jù)傳輸率、尋道時(shí)間、磁盤性能、CPU占用率和磁盤工作噪音、工作溫度等。這樣的測(cè)試得到的數(shù)據(jù)與實(shí)際應(yīng)用有較大的差別，我們需要的是在充分模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境下進(jìn)行的測(cè)試，這樣得到的數(shù)據(jù)才能正確地評(píng)估出磁盤的性能。
　　 通過(guò)設(shè)計(jì)

2、磁盤I/O Trace收集器，測(cè)試在Windows操作系統(tǒng)下磁盤在實(shí)際應(yīng)用中的負(fù)載，并記錄負(fù)載讀寫數(shù)據(jù)。使用WDM(Windows驅(qū)動(dòng)程序模型)設(shè)計(jì)該收集器，過(guò)濾驅(qū)動(dòng)截獲對(duì)磁盤的操作，得到讀寫磁盤的起始扇區(qū)以及扇區(qū)數(shù)并將這些信息保存到鏈表中。通過(guò)建立系統(tǒng)線程，不斷的從鏈表中獲取信息。最后將這些信息記錄到該收集器自身所創(chuàng)建的日志文件中去。同時(shí)設(shè)計(jì)用戶控制程序部分，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同分區(qū)的記錄。
　　 使用磁盤I/O Trace收集器，對(duì)不