基于磁盤I-O負(fù)載特征的磁盤故障分析與預(yù)警方法研究.pdf

1、在當(dāng)今的信息時(shí)代，每天都有大量新信息產(chǎn)生。全球總數(shù)據(jù)量以每年50％的速度增加，以此速度增長下去，每二十年將增加1000倍。如今越來越多的數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)中心，數(shù)據(jù)中心通過硬盤堆積提供大型存儲(chǔ)空間，這些硬盤需要多臺(tái)服務(wù)器承載，任何一臺(tái)服務(wù)器出現(xiàn)故障都會(huì)影響存儲(chǔ)空間可用性。據(jù)統(tǒng)計(jì)，服務(wù)器中主要故障組件是硬盤，故需要在不影響數(shù)據(jù)訪問的前提下提高硬盤的可用性。而故障后排除等傳統(tǒng)手段無法解決此類問題。
　　基于磁盤I/O負(fù)載的磁盤故障分析及

2、預(yù)測(cè)系統(tǒng)被設(shè)計(jì)用于解決上述問題。其通過對(duì)與磁盤故障相關(guān)度高的若干因素進(jìn)行統(tǒng)計(jì)和聚類分析，了解不同服務(wù)器配置的硬盤故障率及其生命周期中變化規(guī)律，并提供制定運(yùn)維方案的基本依據(jù)。系統(tǒng)結(jié)合收集的服務(wù)器磁盤I/O負(fù)載和硬盤故障單，研究硬盤故障前后的特殊變化特征，利用支持向量機(jī)的機(jī)器學(xué)習(xí)方法，對(duì)故障類和正常類的硬盤I/O負(fù)載特征進(jìn)行訓(xùn)練，將兩類樣本映射到高維特征空間，在兩者之間尋找一個(gè)超平面，從而建立故障預(yù)測(cè)模型。實(shí)時(shí)收集各服務(wù)器硬盤I/O負(fù)載，利