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1、隨著數(shù)字處理技術(shù)和數(shù)字硬件的飛速發(fā)展，數(shù)字陣列雷達(dá)已經(jīng)發(fā)展到了實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)研究階段，作為數(shù)字陣列雷達(dá)的核心部件，數(shù)字T/R組件的性能指標(biāo)直接影響著數(shù)字陣列雷達(dá)的性能指標(biāo)，因此對(duì)數(shù)字T/R組件測(cè)試技術(shù)進(jìn)行研究具有重要的實(shí)際意義。 本文主要研究了數(shù)字T/R組件測(cè)試技術(shù)。首先，介紹了數(shù)字T/R組件的基本組成和工作原理，同時(shí)分析了數(shù)字T/R組件的性能指標(biāo)。然后，設(shè)計(jì)了數(shù)字T/R組件測(cè)試系統(tǒng)方案，在介紹了數(shù)字頻譜分析的基礎(chǔ)上，重點(diǎn)研究了模數(shù)轉(zhuǎn)
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